[發明專利]光纖探頭、光纖測量裝置以及間距控制系統

有效

• 申請號: 201680051901.0
• 申請日: 2016-06-29
• 公開（公告）號: CN108027231B
• 公開（公告）日: 2020-04-14
• 發明（設計）人: 宮本貴洋;近藤明生;大西智之;濱田雄久
• 申請（專利權）人: 三菱日立電力系統株式會社
• 主分類號: G01B11/14
• 分類號: G01B11/14;F01D11/22;F01D11/24;F01D25/00;F02C7/00;F02C7/28;G01B11/00
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 高穎

1.一種暴露在高溫高壓環境下的光纖探頭，其特征在于，具備：

探頭主體，具有在外表面設置被檢測面的第1底板部、與該第1底板部對置的第2底板部、和設置于內部的內部空間；

光纖，具有成為中心部的纖芯、和設置于所述纖芯的周圍的包層，該光纖存放于所述內部空間，前端部配置于所述探頭主體的所述第1底板部側；和

位置限制構件，將所述內部空間區分成所述第1底板部側的空間和所述第2底板部側的空間地安裝于所述探頭主體，

所述光纖在第1底板部側的空間中具有第1細徑部、第2細徑部、和在所述第1細徑部和所述第2細徑部之間與所述第1細徑部以及所述第2細徑部分別接連的粗徑部，所述粗徑部的所述纖芯與所述第1細徑部以及所述第2細徑部的所述纖芯直徑相同，所述粗徑部的所述包層的外徑比所述第1細徑部以及所述第2細徑部的所述包層的外徑粗，

所述探頭主體的所述第1底板部具有所述內部空間內的內面、和將所述被檢測面與所述內面之間連通的貫通孔，

所述第1細徑部在所述貫通孔插通，

所述粗徑部使所述第1細徑部側的所述包層的第1端面與所述第1底板部的所述內面抵接，以撓曲的狀態配置在所述第1底板部側的空間，

所述位置限制構件與所述第1端面的相反側的所述粗徑部的所述包層的第2端面抵接設置，通過使所述粗徑部撓曲而將所述第1端面推頂到所述第1底板部的所述內面，由此限制所述光纖的位置。

2.一種暴露在高溫高壓環境下的光纖探頭，其特征在于，具備：

探頭主體，具有在外表面設置被檢測面的第1底板部、與該第1底板部對置的第2底板部、和設置于內部的內部空間；

光纖，具有成為中心部的纖芯、和設置于所述纖芯的周圍的包層，該光纖存放于所述內部空間，前端部配置于所述探頭主體的所述第1底板部側；

位置限制構件，安裝于所述探頭主體；和

彈性構件，將所述光纖推壓到所述第1底板部側，

所述光纖具有第1細徑部、第2細徑部、和在所述第1細徑部和所述第2細徑部之間與所述第1細徑部以及所述第2細徑部分別接連的粗徑部，所述粗徑部的所述纖芯與所述第1細徑部以及所述第2細徑部的所述纖芯直徑相同，所述粗徑部的所述包層的外徑比所述第1細徑部以及所述第2細徑部的所述包層的外徑粗，

所述探頭主體的所述第1底板部具有所述內部空間內的內面、和將所述被檢測面與所述內面之間連通的貫通孔，

所述第1細徑部在所述貫通孔插通，

所述粗徑部以使所述第1細徑部側的所述包層的第1端面與所述第1底板部的所述內面抵接的狀態配置，

所述位置限制構件相對于所述第1端面的相反側的所述粗徑部的所述包層的第2端面空開間隙而設置，

所述彈性構件設置在所述第2端面與所述位置限制構件的所述間隙，將所述第1端面推頂到所述第1底板部的所述內面。

3.根據權利要求1或2所述的光纖探頭，其特征在于，

所述光纖探頭還具備：

在所述貫通孔的所述被檢測面側插通的光學窗口。

4.根據權利要求3所述的光纖探頭，其特征在于，

所述光學窗口成為在軸向上長的圓柱形狀，所述軸向成為所述貫通孔的插通方向，

所述光學窗口的外周面被鍍覆加工。

5.一種光纖測量裝置，其特征在于，具備：

權利要求1或2所述的光纖探頭；

發光部，向所述光纖探頭出射光；

受光部，接受從所述光纖探頭入射的光；和

測量控制部，對去往所述發光部的發光信號和來自所述受光部的受光信號進行信號處理。

6.根據權利要求5所述的光纖測量裝置，其特征在于，

所述光纖具有用于使光從所述被檢測面出射的多個送光用纖、和與多個所述送光用纖分別建立對應并用于接受入射到所述被檢測面的光的多個受光用纖，

所述發光部使從多個所述送光用纖出射的光的色彩不同，

所述受光部具有分選多個不同的色彩的光的多個濾光器。

7.一種間距控制系統，對具備罩殼和相對于所述罩殼空開給定的間距而設置的動葉的渦輪機的所述間距進行調整，該間距控制系統的特征在于，具備：

權利要求5所述的光纖測量裝置，基于所述發光信號和所述受光信號測量所述間距；和

渦輪機控制部，基于由所述光纖測量裝置測量的所述間距執行用于調整所述間距的間距調整控制。