[發明專利]結晶形式有效
| 申請號: | 201680051683.0 | 申請日: | 2016-09-14 |
| 公開(公告)號: | CN108026093B | 公開(公告)日: | 2021-11-16 |
| 發明(設計)人: | 哈米德·艾薩維;克里斯托夫·博斯;帕特里克·布伊;朱利安·哈澤曼;羅曼·西格里斯特;馬庫斯·馮勞默爾 | 申請(專利權)人: | 愛杜西亞藥品有限公司 |
| 主分類號: | C07D471/04 | 分類號: | C07D471/04;A61K31/506;A61P37/00 |
| 代理公司: | 上海勝康律師事務所 31263 | 代理人: | 李獻忠;張華 |
| 地址: | 瑞士阿*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 結晶 形式 | ||
1.(S)-2-(8-((5-氯嘧啶-2-基)(甲基)氨基)-2-氟-6,7,8,9-四氫-5H-吡啶并[3,2-b]吲哚-5-基)乙酸的結晶形式,其特征在于在X射線粉末衍射圖中于以下衍射角2θ處存在峰:12.6°、14.0°及21.1°,其中該X射線粉末衍射圖是在5±3%相對濕度下、在20±3%相對濕度下、在50±3%相對濕度下或在95±3%相對濕度下且在25±5℃溫度下測量。
2.如權利要求1所述的(S)-2-(8-((5-氯嘧啶-2-基)(甲基)氨基)-2-氟-6,7,8,9-四氫-5H-吡啶并[3,2-b]吲哚-5-基)乙酸的結晶形式,其中:
a.在該X射線粉末衍射圖中于以下衍射角2θ處存在峰:12.6°、14.0°、19.8°、20.0°、21.1°及26.4°,其中該X射線粉末衍射圖是在5±3%相對濕度下且在25±5℃溫度下測量;或
b.在該X射線粉末衍射圖中于以下衍射角2θ處存在峰:12.6°、14.0°、19.7°、21.1°及26.4°,其中該X射線粉末衍射圖是在20±3%相對濕度下且在25±5℃溫度下測量;或
c.在該X射線粉末衍射圖中于以下衍射角2θ處存在峰:12.6°、14.0°、19.5°、21.1°、21.4°及26.1°,其中該X射線粉末衍射圖是在50±3%相對濕度下且在25±5℃溫度下測量;或
d.在該X射線粉末衍射圖中于以下衍射角2θ處存在峰:12.6°、14.0°、19.5°、21.1°、21.5°及26.0°,其中該X射線粉末衍射圖是在95±3%相對濕度下且在25±5℃溫度下測量。
3.如權利要求1所述的(S)-2-(8-((5-氯嘧啶-2-基)(甲基)氨基)-2-氟-6,7,8,9-四氫-5H-吡啶并[3,2-b]吲哚-5-基)乙酸的結晶形式,其中:
a.在該X射線粉末衍射圖中于以下衍射角2θ處存在峰:12.6°、14.0°、15.6°、19.8°、20.0°、21.1°、23.7°、26.4°、27.5°及28.4°,其中該X射線粉末衍射圖是在5±3%相對濕度下且在25±5℃溫度下測量;或
b.在該X射線粉末衍射圖中于以下衍射角2θ處存在峰:12.6°、14.0°、15.6°、19.7°、21.1°、23.3°、23.6°、26.4°、27.4°及28.4°,其中該X射線粉末衍射圖是在20±3%相對濕度下且在25±5℃溫度下測量;或
c.在該X射線粉末衍射圖中于以下衍射角2θ處存在峰:12.6°、14.0°、15.2°、16.1°、19.5°、21.1°、21.4°、23.0°、26.1°及27.0°,其中該X射線粉末衍射圖是在50±3%相對濕度下且在25±5℃溫度下測量;或
d.在該X射線粉末衍射圖中于以下衍射角2θ處存在峰:12.6°、14.0°、16.2°、18.9°、19.5°、21.1°、21.5°、22.9°、26.0°及27.0°,其中該X射線粉末衍射圖是在95±3%相對濕度下且在25±5℃溫度下測量。
4.如權利要求1所述的(S)-2-(8-((5-氯嘧啶-2-基)(甲基)氨基)-2-氟-6,7,8,9-四氫-5H-吡啶并[3,2-b]吲哚-5-基)乙酸的結晶形式,
a.其基本上顯示如圖1中所描繪的X射線粉末衍射圖,其中該X射線粉末衍射圖是在5±3%相對濕度下且在25±5℃溫度下測量;或
b.其基本上顯示如圖2中所描繪的X射線粉末衍射圖,其中該X射線粉末衍射圖是在20±3%相對濕度下且在25±5℃溫度下測量;或
c.其基本上顯示如圖3中所描繪的X射線粉末衍射圖,其中該X射線粉末衍射圖是在50±3%相對濕度下且在25±5℃溫度下測量;或
d.其基本上顯示如圖4中所描繪的X射線粉末衍射圖,其中該X射線粉末衍射圖是在95±3%相對濕度下且在25±5℃溫度下測量。
5.如權利要求1至4中任一項所述的(S)-2-(8-((5-氯嘧啶-2-基)(甲基)氨基)-2-氟-6,7,8,9-四氫-5H-吡啶并[3,2-b]吲哚-5-基)乙酸的結晶形式,其藉由差示掃描量熱法測定顯示在260±5℃至276±5℃的范圍內的吸熱事件。
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