[發(fā)明專利]氣體濃度檢測(cè)裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201680051142.8 | 申請(qǐng)日: | 2016-08-16 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107923848B | 公開(公告)日: | 2020-08-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 安田雅章;大串直輝;堀內(nèi)秀哉 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 株式會(huì)社村田制作所 |
| 主分類號(hào): | G01N21/61 | 分類號(hào): | G01N21/61;G01N21/3504 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021 | 代理人: | 樸云龍 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 氣體 濃度 檢測(cè) 裝置 | ||
1.一種氣體濃度檢測(cè)裝置,引入流動(dòng)的測(cè)定對(duì)象氣體并測(cè)定所述測(cè)定對(duì)象氣體包含的特定氣體的濃度,所述氣體濃度檢測(cè)裝置具備:
氣體濃度檢測(cè)器,具有板狀的電路基板,測(cè)定所述特定氣體的濃度;
外殼,具有底部以及與該底部對(duì)置的頂部,將所述氣體濃度檢測(cè)器容納在內(nèi)部;以及
風(fēng)向引導(dǎo)板部,設(shè)置為從所述外殼的所述底部朝向外部突出,用于從外部向所述外殼的內(nèi)部導(dǎo)入所述測(cè)定對(duì)象氣體,且從所述外殼的內(nèi)部朝向外部導(dǎo)出所述測(cè)定對(duì)象氣體,
所述外殼包括導(dǎo)入所述測(cè)定對(duì)象氣體的導(dǎo)入孔和導(dǎo)出所述測(cè)定對(duì)象氣體的導(dǎo)出孔,
所述導(dǎo)入孔以及所述導(dǎo)出孔設(shè)置在所述外殼的底部,使得夾著所述風(fēng)向引導(dǎo)板部,
所述氣體濃度檢測(cè)器從所述外殼的所述底部隔開給定的距離進(jìn)行配置,使得所述電路基板的一個(gè)主面與所述風(fēng)向引導(dǎo)板部對(duì)置,并且與所述外殼的所述底部對(duì)置,
所述氣體濃度檢測(cè)裝置設(shè)置有分隔部,所述分隔部將形成在所述氣體濃度檢測(cè)器與所述外殼的所述底部之間的空間分隔為所述導(dǎo)入孔側(cè)的空間和所述導(dǎo)出孔側(cè)的空間。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的氣體濃度檢測(cè)裝置,其中,
所述分隔部設(shè)置為,從所述風(fēng)向引導(dǎo)板部連續(xù)地延伸。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的氣體濃度檢測(cè)裝置,其中,
所述分隔部與所述氣體濃度檢測(cè)器抵接。
4.根據(jù)權(quán)利要求1至3中的任一項(xiàng)所述的氣體濃度檢測(cè)裝置,其中,
所述氣體濃度檢測(cè)器具有朝向所述風(fēng)向引導(dǎo)板部突出的突出部,
所述分隔部包括所述突出部。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的氣體濃度檢測(cè)裝置,其中,
還具備:管狀構(gòu)件,與所述導(dǎo)入孔以及所述導(dǎo)出孔連通,并且從所述外殼的所述底部朝向外部突出,
所述風(fēng)向引導(dǎo)板部設(shè)置為,穿過(guò)所述管狀構(gòu)件的內(nèi)部,比位于與所述外殼所位于的一側(cè)相反側(cè)的所述管狀構(gòu)件的一端朝向外部突出。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的氣體濃度檢測(cè)裝置,其中,
所述風(fēng)向引導(dǎo)板部固定在所述管狀構(gòu)件,
所述管狀構(gòu)件能夠拆裝地與所述外殼連接。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的氣體濃度檢測(cè)裝置,其中,
所述氣體濃度檢測(cè)器是非分散型紅外線吸收式的氣體濃度檢測(cè)器,包括:
光路構(gòu)件,搭載在所述電路基板,在內(nèi)部具有紅外線的光路,并且設(shè)置有使所述光路與外部的空間連通的連通部;以及
紅外線照射元件和紅外線受光元件,設(shè)置在所述光路,
通過(guò)使用所述紅外線照射元件對(duì)經(jīng)由所述連通部導(dǎo)入到所述光路的所述測(cè)定對(duì)象氣體照射紅外線,并由所述紅外線受光元件對(duì)照射到所述測(cè)定對(duì)象氣體的紅外線進(jìn)行受光,從而檢測(cè)所述測(cè)定對(duì)象氣體包含的所述特定氣體的濃度。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的氣體濃度檢測(cè)裝置,其中,
所述氣體濃度檢測(cè)器配置為,所述電路基板中的未搭載所述光路構(gòu)件側(cè)的主面與所述外殼的所述底部對(duì)置。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的氣體濃度檢測(cè)裝置,其中,
所述氣體濃度檢測(cè)器配置為,所述電路基板中的搭載有所述光路構(gòu)件側(cè)的主面與所述外殼的所述底部對(duì)置。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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