[發(fā)明專利]聯(lián)機x射線測量設(shè)備和方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201680046538.3 | 申請日: | 2016-06-10 |
| 公開(公告)號: | CN108401442B | 公開(公告)日: | 2021-01-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 馬克·B·基爾舍曼 | 申請(專利權(quán))人: | 伊利諾斯工具制品有限公司 |
| 主分類號: | G01N23/046 | 分類號: | G01N23/046;G01N23/18;G01N23/083 |
| 代理公司: | 上海脫穎律師事務(wù)所 31259 | 代理人: | 脫穎 |
| 地址: | 美國伊*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 聯(lián)機 射線 測量 設(shè)備 方法 | ||
一種x射線檢查設(shè)備可以包括x射線源、x射線檢測器和驅(qū)動組件。所述驅(qū)動組件可配置為提升部件載體,以使得所述部件載體從進給組件脫開并且安裝在所述部件載體上的物體定位在所述x射線源與所述x射線檢測器之間。所述進給組件可以被配置為供送部件載體進出x射線檢查設(shè)備。驅(qū)動組件可以進一步配置為隨后降低部件載體,以使得所述部件載體與所述進給組件重新接合。
本申請要求于2015年6月30日提交的美國臨時專利申請62/186,792的權(quán)益,其全部內(nèi)容通過引用的方式并入本文。
技術(shù)領(lǐng)域
本公開涉及物體的x射線檢查。
背景技術(shù)
x射線計算機斷層攝影(CT)是一種使用計算機處理的x射線來產(chǎn)生物體的斷層圖像的程序。物體的斷層圖像是物體的概念上的二維“切片”的圖像。計算裝置可以使用物體的斷層圖像來生成物體的三維圖像。x射線CT可用于工業(yè)目的進行物體的無損評估。x射線測量是一種相關(guān)的技術(shù),在該技術(shù)中使用x射線來測量被測物體的內(nèi)部和外部尺寸。
發(fā)明內(nèi)容
通常,本公開描述了用于在生產(chǎn)環(huán)境或其他類型的環(huán)境中對部件或其他物體進行x射線檢查的x射線檢查設(shè)備、系統(tǒng)和方法。
在一個實例中,本公開描述了包括x射線源、x射線檢測器和驅(qū)動組件(即,驅(qū)動機構(gòu))的x射線檢查設(shè)備。所述驅(qū)動組件配置為提升部件載體,以使得所述部件載體從進給組件脫開并且安裝在所述部件載體上的物體定位在所述x射線源與所述x射線檢測器之間。所述進給組件被配置為供送所述部件載體進出所述x射線檢查設(shè)備。所述驅(qū)動組件進一步配置為隨后降低所述部件載體,以使得所述部件載體與所述進給組件重新接合。
在另一個實例中,本公開描述了一種方法,其包括:提升部件載體,以使得所述部件載體從進給組件上脫開并且安裝在所述部件載體上的物體定位在x射線源與x射線檢測器之間,其中所述進給組件被配置為供送所述部件載進出包括所述x射線源和所述x射線檢測器的x射線檢查設(shè)備,以及隨后降低所述部件載體,以使得所述部件載體與所述進給組件重新接合。
在另一實例中,本公開描述了一種x射線檢查設(shè)備,其包括:x射線源、x射線檢測器、機器人進給組件、封閉所述x射線源、所述x射線檢測器和所述機器人進給組件的放射防護罩。在該實例中,所述放射防護罩限定開口。該設(shè)備還包括配置為選擇性地覆蓋和露出所述開口的門。在該實例中,所述機器人進給組件被配置為:將部件載體從進給組件移動通過開口,并且移動到所述x射線源與所述x射線檢測器之間的位置,其中待檢查的物體被安裝在所述部件載體上。所述機器人進給組件配置為隨后將部件載體移動返回通過開口到進給組件。
在另一個實例中,本公開描述了一種方法,該方法包括:由封閉在限定開口的放射防護罩內(nèi)的機器人進給組件將部件載體從進給組件移動通過開口并移動到封閉在所述放射防護罩內(nèi)的x射線源與封閉在所述放射防護罩內(nèi)的x射線檢測器之間的位置,其中待檢查的物體安裝在所述部件載體上,隨后由機器人進給組件將部件載體移動返回通過開口到進給組件。
在附圖和下面的描述中闡述了一個或多個實例的細節(jié)。從說明書、附圖和權(quán)利要求書中,其他特征、目的和優(yōu)點將是顯而易見的。
附圖說明
圖1是示出可以執(zhí)行本公開的一個或多個技術(shù)的實例性x射線檢查設(shè)備的框圖。
圖2是示出根據(jù)本公開的技術(shù)的x射線檢查設(shè)備的實例性外部視圖的示意圖。
圖3示出了根據(jù)本公開的技術(shù)的圖2中的x射線檢查設(shè)備的實例性剖面圖的示意圖。
圖4是示出根據(jù)本公開的技術(shù)的圖2中的x射線檢查設(shè)備的外部部件的實例性俯視圖的示意圖。
圖5示出了根據(jù)本公開的技術(shù)的圖2中的x射線檢查設(shè)備的內(nèi)部部件的實例性俯視圖的示意圖。
圖6是示出根據(jù)本公開的技術(shù)的圖2中的x射線檢查設(shè)備的實例性剖面正視圖的示意圖。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于伊利諾斯工具制品有限公司,未經(jīng)伊利諾斯工具制品有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
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- 設(shè)備向設(shè)備轉(zhuǎn)發(fā)





