[發(fā)明專利]改進(jìn)型拉曼光譜系統(tǒng)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201680045129.1 | 申請日： | 2016-06-01 |
| 公開（公告）號： | CN108027279A | 公開（公告）日： | 2018-05-11 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | K·西茲波克;J·索努克 | 申請（專利權(quán)）人： | 瑟斯技術(shù)公司 |
| 主分類號： | G01J3/02 | 分類號： | G01J3/02;G01J3/44;G01J1/02 |
| 代理公司： | 北京潤平知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11283 | 代理人： | 陳瀟瀟;肖冰濱 |
| 地址： | 瑞典*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 改進(jìn)型 光譜 系統(tǒng) | ||
1.一種用于分析來自由電磁輻射照射的物體(O)的非彈性散射電磁輻射的系統(tǒng)(10)，包括：
電磁輻射源(11)，用于向所述物體發(fā)射電磁輻射；
至少一個檢測器(15，121)，用于檢測來自所述物體的所述非彈性散射電磁輻射的至少部分，所述檢測器被布置為在光譜儀單元(12)中，所述光譜儀單元用于檢測來自所述物體的非彈性散射電磁輻射的波長譜；
可調(diào)透鏡組件(13)，包括設(shè)置在所述電磁輻射源(11)與所述物體之間的波束路徑中的可調(diào)透鏡(13)，并被布置為將從所述電磁輻射源(11)發(fā)射的電磁輻射波束投射到所述物體的區(qū)域，并接收和校準(zhǔn)來自所述物體的所述非彈性散射電磁輻射；以及
控制單元(14)，連接到所述可調(diào)透鏡(13)，并被布置為通過向所述可調(diào)透鏡組件(13)施加第一設(shè)置控制操作信號來控制所述可調(diào)透鏡組件的光學(xué)特性操作設(shè)置，所述第一設(shè)置控制操作信號包括與可實現(xiàn)的第一焦距、第一波束形狀和/或第一波束位置有關(guān)的信息，
所述控制單元(14)還連接到所述至少一個檢測器(15，121)，用于在使用所述可調(diào)透鏡組件(13)的所述第一設(shè)置時接收至少來自所述物體的所述非彈性散射電磁輻射的第一光譜，其中所述控制單元被布置為：
通過將所述第一光譜的光學(xué)特性與參考進(jìn)行比較來分析所檢測到的非彈性散射電磁輻射的部分，并決定是否應(yīng)當(dāng)將所述第一設(shè)置改變到所述可調(diào)透鏡組件的第二設(shè)置，以及在決定將所述第一設(shè)置改變到第二設(shè)置的情況下，所述控制單元還被配置成：
傳送與所述第二設(shè)置相關(guān)聯(lián)的第二設(shè)置控制操作信號至所述電可調(diào)透鏡組件(13)，所述第二設(shè)置包括與所述可調(diào)透鏡組件可實現(xiàn)的第二焦距、第二波束形狀和/或第二波束位置有關(guān)的信息，其中改變到所述可調(diào)透鏡組件(13)的第二設(shè)置的決定基于：
在所述第一光譜中存在高于預(yù)定閾值的第一熒光等級，由此所述第二設(shè)置與相比于所述第一設(shè)置的波束形狀增大的波束形狀相關(guān)聯(lián)；
在所述第一光譜中存在低于所述預(yù)定等級的第二熒光等級，由此所述第二設(shè)置與相比于所述第一設(shè)置的波束形狀減小的波束形狀相關(guān)聯(lián)，或
不存在熒光或存在低于所述第二等級的第三熒光等級，由此所述第二設(shè)置與第二焦距或第二波束位置相關(guān)聯(lián)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)(10)，其中所述光學(xué)特性與以下中的至少一者相關(guān)聯(lián)：強度、頻率、能量譜、譜密度和/或時間變化。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的系統(tǒng)(10)，其中所述光學(xué)特性與來自所述物體的非彈性散射電磁輻射的波長譜有關(guān)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的系統(tǒng)(10)，其中所述波長譜對應(yīng)于與熒光相關(guān)聯(lián)的波長范圍。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)(10)，其中所述第一和/或第二設(shè)置控制信號被包含在測試方案中，該測試方案分別指定多個預(yù)定特定焦距、波束形狀或波束位置。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的系統(tǒng)(10)，其中所述控制單元(4)還被配置成：
基于包含多個預(yù)定特定焦距的所述測試方案傳送多個設(shè)置控制信號；以及針對每個傳送的設(shè)置控制信號，
將波長譜存儲在存儲器中，產(chǎn)生多個存儲的測試方案譜；
通過比較每個存儲的測試方案譜與其他的存儲的測試方案譜來分析所述多個存儲的測試方案譜，以識別每個存儲的測試方案譜之間的差異，以及在識別的差異超過參考閾值的情況下，所述控制單元(13)被布置為作出所述物體沿著所述物體的縱軸是非同質(zhì)的決定。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的系統(tǒng)(10)，其中所述控制單元(14)還被配置成：
基于包含針對特定波束位置的多個預(yù)定波束形狀的所述測試方案傳送多個設(shè)置控制信號；以及針對每個傳送的設(shè)置控制信號，
將波長譜存儲在存儲器中，產(chǎn)生多個存儲的測試方案譜；
通過比較每個存儲的測試方案譜與其他的存儲的測試方案譜來分析所述多個存儲的測試方案譜，以識別每個存儲的測試方案譜之間的差異，以及在識別的差異超過參考閾值的情況下，所述控制單元(13)被布置為作出所述物體沿著所述物體的橫軸或沿著包含所述縱軸和所述橫軸的平面的法線且在所述物體的縱向位置是非同質(zhì)的決定。
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