[發明專利]檢查經磨邊眼科鏡片的幾何和光學特征的方法及相關設備

有效

• 申請號: 201680044580.1
• 申請日: 2016-07-28
• 公開（公告）號: CN107850511B
• 公開（公告）日: 2020-05-12
• 發明（設計）人: C·勒邁爾;X·里本斯
• 申請（專利權）人: 依視路國際公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G01B11/24;G06K9/00;G01N21/958;G02C13/00
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038
• 代理人: 陳華成

本發明涉及一種用于檢查經磨邊的眼科鏡片(10)的至少一個幾何特征以及一個光學特征的方法，所述方法包括以下步驟：a)將所述經磨邊的眼科鏡片安排在支架(110)上，b)捕捉所述經磨邊的眼科鏡片的至少一個圖像，c)根據所述圖像，確定所述經磨邊的眼科鏡片的測得幾何特征，d)在步驟b)中捕捉到的所述圖像的參考系中確定所述經磨邊的眼科鏡片的至少一個測得光學特征，e)將與所述測得光學特征相關聯的所述測得幾何特征與預先限定的希望的眼科鏡片模型進行比較，所述眼科鏡片模型包括至少一個希望的幾何特征以及一個相關聯的希望的光學特征。本發明還涉及一種相關聯的檢查設備。

技術領域

總體上，本發明涉及用于檢查經磨邊的眼科鏡片的方法的領域。

本發明更具體地涉及一種用于檢查經磨邊的眼科鏡片的幾何特征和光學特征的方法。

本發明還涉及一種用于檢查經磨邊的眼科鏡片的至少一個幾何特征和/或光學特征的設備。

背景技術

旨在安裝在特定眼鏡架中的眼科鏡片是由初始圓形鏡片制造而成，所述圓形鏡片具有配戴者的處方所要求的光學特征。

為此，對這個初始鏡片進行磨邊以具有適合于配戴者所選擇的眼鏡架的輪廓，根據配戴者的幾何-形態特征(如瞳孔間距)、和/或根據與鏡架在配戴者臉上的位置相關的特征(例如，瞳孔相對于在配戴者頭部上就位的鏡架或鏡片的下邊緣的高度)、和/或根據在給定配戴者處方的情況下經磨邊的眼科鏡片所希望的光學特征來使這個輪廓在初始鏡片中居中。

因此，在已經對初始鏡片磨邊之后，已知的是控制所獲得的經磨邊的眼科鏡片的品質以便一方面檢查經磨邊的眼科鏡片的最終輪廓確實對應于所希望輪廓(取決于所選眼鏡架)、并且另一方面檢查經磨邊的眼科鏡片的光學特征確實對應于所希望光學特征(取決于配戴者和所選鏡架)。

這種品質控制是根據非標準化方案分多個不同的步驟手動且目視地進行的。因此這種品質控制執行起來是耗時且繁瑣的。此外，這是不精確的。

發明內容

為了彌補現有技術的前述缺點，本發明提供了一種用于檢查經磨邊的眼科鏡片的幾何特征和光學特征、準許以更高精確度且更快速地控制經磨邊鏡片的品質的新方法。

更具體地，根據本發明，提出了這樣一種方法，該方法包括以下步驟：

a)將所述經磨邊的眼科鏡片放在支架上，

b)捕捉這個經磨邊的眼科鏡片的至少一個圖像，

c)基于這個圖像，確定所述經磨邊的眼科鏡片的測得幾何特征，

d)在步驟b)中捕捉到的所述圖像的坐標系中確定這個經磨邊的眼科鏡片的至少一個測得光學特征，

e)將與所述測得光學特征相關聯的所述測得幾何特征與預先確定的希望的眼科鏡片模型進行比較，所述希望的眼科鏡片模型包括至少一個對應的希望的幾何特征以及一個對應的希望的光學特征。

因此，借助于根據本發明的檢查方法，能夠自動且系統地實現對經磨邊的眼科鏡片的品質的控制。快速進行這種品質控制。減少了制造眼科鏡片所花的時間。

此外，提高了對鏡片的幾何特征和光學特征的品質控制的精確度。

借助于根據本發明的方法，可以在將眼科鏡片安裝在所選鏡架中之前檢查所述鏡片的輪廓和光學特征。確保發送給配鏡師以便隨后安裝在鏡架中的經磨邊的眼科鏡片的品質。

此外，借助于根據本發明的方法，可以量化并且記錄測得幾何特征或測得光學特征的缺陷，以便建立關于所述經磨邊的眼科鏡片的統計學數據庫。提高了眼科鏡片的可追溯性。

以下內容是根據本發明方法的其他非限制性且有利的特征，所述特征可以單獨地或以任何技術上可能的組合來實施：