[發(fā)明專利]傳送帶監(jiān)控系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201680039657.6
• 申請日: 2016-05-13
• 公開（公告）號: CN107848717B
• 公開（公告）日: 2020-06-05
• 發(fā)明（設計）人: 侯剛
• 申請（專利權(quán)）人: 橫濱橡膠株式會社
• 主分類號: B65G43/02
• 分類號: B65G43/02
• 代理公司: 北京市中咨律師事務所 11247
• 代理人: 張謨煜;段承恩

本發(fā)明提供一種能夠高精度地檢測在傳送帶發(fā)生斷裂等缺陷的預兆的傳送帶監(jiān)控系統(tǒng)。通過伸長率感測機構(gòu)(2)依次感測運行中的傳送帶(6)的伸長率，并且通過張力感測機構(gòu)(3)依次感測作用于構(gòu)成該傳送帶(6)的芯體層(7)的張力，基于這些所得到的數(shù)據(jù)，通過控制部(4)，監(jiān)視傳送帶(6)有無異常，掌握在傳送帶(6)是否發(fā)生異常。

技術領域

本發(fā)明涉及一種傳送帶監(jiān)控系統(tǒng)，更具體而言，涉及一種能夠高精度地檢測在傳送帶產(chǎn)生斷裂等缺陷的預兆的傳送帶監(jiān)控系統(tǒng)。

背景技術

以鐵礦石、石灰石等礦物資源為首的各種物品通過傳送帶來輸送。這些輸送物從料斗、其他傳送帶投入至傳送帶的上覆蓋膠的表面。然后，例如，當上覆蓋膠因被投入的輸送物而損壞，負載傳送帶的張力的芯體層受損時，則變得不足以負載張力。當芯體層斷裂時，不能使傳送帶運轉(zhuǎn)，輸送操作不得已被中斷。修理、更換斷裂的傳送帶并進行修復需要大量的時間和費用。因此，提出了各種早期感測這種傳送帶缺陷的方法(例如，參照專利文獻1)。

然而，以往提出的方法是監(jiān)控傳送帶的伸長率，并基于所掌握的伸長率的數(shù)據(jù)來感測異常的結(jié)構(gòu)。然而，也有即使伸長率大也難以斷裂的傳送帶(芯體層)。此外，傳送帶的伸長率是芯體層的伸長率和芯體層的環(huán)狀部(連結(jié)部)的偏移量的合計量。因此，即使是相同規(guī)格的傳送帶，由于兩者的組合，傳送帶的伸長會產(chǎn)生不均，有時僅通過傳送帶的伸長率不能判斷傳送帶是否將要斷裂。因此，在僅通過監(jiān)控傳送帶的伸長率來高精度地檢測傳送帶的斷裂等的預兆這方面存在改善的余地。

現(xiàn)有技術文獻

專利文獻

專利文獻1：日本專利特開2010-52927號公報

專利文獻2：日本專利特開2006-44853號公報

發(fā)明內(nèi)容

發(fā)明要解決的問題

本發(fā)明的目的在于提供一種能夠高精度地檢測在傳送帶產(chǎn)生斷裂等缺陷的預兆的傳送帶監(jiān)控系統(tǒng)。

技術方案

達成所述目的的本發(fā)明的傳送帶監(jiān)控系統(tǒng)，其特征在于，具備：依次感測運行中的傳送帶的伸長率的伸長率感測機構(gòu)；依次感測作用于構(gòu)成該傳送帶的芯體層的張力的張力感測機構(gòu)；以及，供通過這些伸長率感測機構(gòu)以及張力感測機構(gòu)所獲得的數(shù)據(jù)輸入的控制部，基于所述輸入的數(shù)據(jù)，通過所述控制部監(jiān)視所述傳送帶有無異常。

有益效果

根據(jù)本發(fā)明，不僅依次感測運行中的傳送帶的伸長率，還依次感測作用于芯體層的張力，因此，與僅使用傳送帶的伸長率的數(shù)據(jù)的情況相比，通過使用這些所獲得的伸長率和張力的數(shù)據(jù)，能夠高精度地檢測在傳送帶產(chǎn)生斷裂等缺陷的預兆。

在此，例如，通過所述伸長率感測機構(gòu)，感測在傳送帶的寬度方向上隔開規(guī)定間隔的多處的伸長率。由此，能夠感測傳送帶寬度方向上不均勻的異常伸長率。與此相伴，能夠更加高精度地檢測傳送帶的斷裂等的預兆。

通過所述伸長率感測機構(gòu)，感測在傳送帶的長尺寸方向上隔開規(guī)定間隔的多處的伸長率。由此，能夠感測傳送帶的長尺寸方向上不均勻的異常伸長率。與此相伴，能夠更加高精度地檢測傳送帶的斷裂等的預兆。

作為所述傳送帶的伸長率，例如，對芯體層的環(huán)狀部以及非環(huán)狀部的伸長率進行感測。由此，容易區(qū)別并掌握環(huán)狀部的偏移量和非環(huán)狀部的伸長率。與此相伴，有利于高精度地檢測傳送帶的斷裂等的預兆。

也可以采用以下的構(gòu)成：所述張力感測機構(gòu)基于運行的所述傳送帶的電力消耗，依次感測作用于所述芯體層的張力。通過該構(gòu)成，能夠比較簡便地感測張力。

附圖說明

圖1是在側(cè)視下舉例示出本發(fā)明的傳送帶監(jiān)控系統(tǒng)的說明圖。

圖2是圖1的A-A剖面圖。