[發明專利]為金屬帶表面鍍層的方法以及金屬帶鍍層裝置

在審

• 申請號: 201680037227.0
• 申請日: 2016-06-23
• 公開（公告）號: CN107849698A
• 公開（公告）日: 2018-03-27
• 發明（設計）人: 托馬斯·米勒;阿爾諾·內爾弗里斯;英戈·羅格納
• 申請（專利權）人: 蒂森克虜伯鋼鐵歐洲股份公司;蒂森克虜伯股份公司
• 主分類號: C23C22/77
• 分類號: C23C22/77;G01N25/72
• 代理公司: 北京天昊聯合知識產權代理有限公司11112
• 代理人: 張凱,張杰

1.一種為金屬帶表面鍍層的方法，其中，所述方法具有以下步驟：

-借助鍍層工位為金屬帶的表面鍍濕涂層，

-借助金屬帶運送裝置運送金屬帶，

-通過制作探測區域的熱圖探測鍍有濕涂層的表面，所述探測區域包括表面的一部分。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在一個光譜區域中獲取熱圖，所述區域至少包括1微米至20微米之間的波長，優選至少包括7微米至20微米之間的波長。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，探測區域緊接在鍍層工位的之后，探測區域優選至少部分地包括鍍層工位。

4.根據前述權利要求中任意一項所述的方法，其特征在于，探測區域包括金屬帶的整個寬度范圍。

5.根據前述權利要求中任意一項所述的方法，其特征在于，

-熱圖設置為連續的熱圖膠片，

-能夠與金屬帶的帶區段對應地創建熱圖膠片的膠片區段和/或

-能夠金屬帶對應地創建熱圖膠片的膠片區段。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，熱圖的連續訪問根據溫度差值進行，并且在確定溫度差值大于參考差值時給出一個標記值，其對應于金屬帶和/或帶卷的帶區段。

7.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，參考差值小于5開，優選小于2開和/或參考差值能夠調整。

8.根據權利要求5至7中任意一項所述的方法，其特征在于，連續訪問就地進行。

9.根據前述權利要求中任意一項所述的方法，其特征在于，通過熱源照射鍍有濕涂層的金屬帶的表面的位于探測區域中的部分。

10.根據權利要求9所述的方法，其特征在于，熱源具有熱輻射功率，其在所述探測區域相當于在35攝氏度到100攝氏度之間的溫度，優選在30攝氏度到75攝氏度之間的溫度，特別優選相當于在35攝氏度到60攝氏度之間的溫度。

11.根據權利要求1至10中任意一項所述的方法，其特征在于，

-探測帶位置的熱圖，

-沿輪廓確定所測溫度的變化量dT，

-使用相對于參考值的變化量dT作為對比值用于與校準表格對比，從而確定濕涂層的厚度。

12.根據權利要求1至11中任意一項所述的方法，其特征在于，獲取仍然潮濕或濕潤的濕涂層的熱圖。

13.一種金屬帶鍍層裝置(1)，具有

用于使金屬帶(3)穿過鍍層工位(2)的、構造為濕鍍層工位的鍍層工位(2)，從而為金屬帶的表面鍍濕涂層，

熱成像相機(4)，其對準探測區域，其中，探測區域(5)包括金屬帶的表面的一部分。

14.根據權利要求13所述的金屬帶鍍層裝置，還具有用于向探測區域放射熱輻射的熱源(7)。

15.一種具有計算機程序指令的計算機程序產品，其用于當計算單元(6)讀取計算機程序指令時，執行根據權利要求1至12中任意一項所述的方法，其中，計算單元設計用于熱成像相機的控制，并且具有對所創建熱圖的讀取權限。

16.根據權利要求13或14所述的金屬帶鍍層裝置的一個應用，其用于對鍍有濕涂層的表面通過就地熱圖為具有濕涂層的金屬帶鍍層以及確定具有鍍層缺陷的帶區段的金屬帶鍍層裝置，其中，在確定具有鍍層缺陷的帶區段之后以能夠追蹤的方式登記。

17.一種熱成像相機的應用，所述應用優選通過探測反射的熱輻射用于由在具有第二發射率的第二材料制成的基底上的具有第一發射率的第一材料制成的濕涂層的熱圖，其中，第一發射率與第二發射率至少相差5％，優選相差10％，特別優選相差多于20％，用于檢測具有與鍍層的標稱特性不同的鍍層的位置。