[發明專利]具有比特級確收和糾錯的串行接口

在審

• 申請號: 201680035073.1
• 申請日: 2016-06-15
• 公開（公告）號: CN107750359A
• 公開（公告）日: 2018-03-02
• 發明（設計）人: L·J·米什拉;R·韋斯特費爾特;G·威利
• 申請（專利權）人: 高通股份有限公司
• 主分類號: G06F13/42
• 分類號: G06F13/42
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司31100
• 代理人: 周敏,陳煒

1.一種方法，包括：

在過采樣時鐘的第一組循環期間，對傳送引腳的電壓進行采樣以從具有耦合到所述傳送引腳的接收引腳的接收方設備接收第一組電壓采樣；

處理所述第一組電壓采樣以確定所述接收方設備是否正確地解碼先前比特傳輸；

響應于確定所述接收方設備不正確地解碼了所述先前比特傳輸而在所述過采樣時鐘的第二組循環期間脈動所述傳送引腳的電壓以向所述接收方設備通知所述接收方設備不正確地解碼了所述先前比特傳輸；以及

在所述過采樣時鐘的第三組采樣期間，在所述傳送引腳上向所述接收方設備的所述接收引腳傳送當前比特。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述過采樣時鐘為16X過采樣時鐘。

3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，發射機被配置成在高阻抗與低阻抗之間進行選擇以用于驅動所述傳送引腳，并且其中傳送所述當前比特包括針對所述第三組采樣的初始部分使用所述低阻抗來傳送所述當前比特以及針對所述第三組采樣的最后部分使用所述高阻抗來傳送所述當前比特，其中所述高阻抗大于所述低阻抗。

4.如權利要求3所述的方法，其特征在于，所述第三組采樣的所述最后部分包括所述第三組采樣的最后一個采樣，并且其中所述第三組采樣的所述初始部分包括所述第三組采樣中除所述最后一個采樣之外的所有采樣。

5.如權利要求3所述的方法，其特征在于，在所述第二組采樣期間脈動所述傳送引腳的電壓包括使用所述低阻抗來脈動所述傳送引腳的電壓。

6.如權利要求1所述的方法，其特征在于，發射機被配置成在高阻抗與低阻抗之間進行選擇以用于對所述傳送引腳電壓進行所述采樣，并且其中接收所述第一組電壓采樣包括使用所述高阻抗來對所述傳送引腳電壓進行采樣，其中所述高阻抗大于所述低阻抗。

7.如權利要求1所述的方法，其特征在于，傳送所述當前比特包括在虛擬GPIO信號的幀中傳送虛擬GPIO信號。

8.一種方法，包括：

在過采樣時鐘的第一組循環期間，對接收引腳的電壓進行采樣以提供收到比特的第一組電壓采樣；

處理所述第一組電壓采樣以確定所述收到比特的二進制值；

在所述過采樣時鐘的第二組循環期間，響應于所述收到比特的所確定的二進制值而將所述接收引腳充電至確收電壓；

在所述過采樣時鐘的第三組循環期間，對所述接收引腳的電壓進行采樣以提供第二組電壓采樣；

處理所述第三組電壓采樣以確定傳送方設備是否在所述第三組采樣期間脈動了所述接收引腳的電壓；以及

響應于確定所述傳送方設備脈動了所述接收引腳的電壓而反轉所述收到比特的所確定的二進制值。

9.如權利要求8所述的方法，其特征在于，所述過采樣時鐘為16X過采樣時鐘。

10.如權利要求8所述的方法，其特征在于，接收機被配置成在高阻抗與低阻抗之間進行選擇以用于對所述接收引腳電壓進行所述采樣以及用于對所述接收引腳電壓進行所述充電，并且其中對所述第一組電壓采樣進行采樣包括使用所述高阻抗來對所述傳送引腳電壓進行采樣，其中所述高阻抗大于所述低阻抗。

11.如權利要求10所述的方法，其特征在于，在所述第二組采樣期間將所述接收引腳充電至所述確收電壓包括通過所述低阻抗來對所述接收引腳進行充電。

12.如權利要求8所述的方法，其特征在于，針對所述收到比特的所確定的二進制1狀態將所述接收引腳充電至所述確收電壓包括將所述接收引腳充電至供電電壓。

13.如權利要求12所述的方法，其特征在于，針對所述收到比特的所確定的二進制0狀態將所述接收引腳充電至所述確收電壓包括將所述接收引腳放電至接地電壓。

14.如權利要求8所述的方法，其特征在于，處理所述第三組電壓采樣包括確定所述第三組電壓采樣是否表示三個或更多個上升沿或下降沿。

15.如權利要求8所述的方法，其特征在于，對所述接收引腳的電壓進行采樣以提供所述收到比特的所述第一組電壓采樣包括在虛擬GPIO信號的幀中對虛擬GPIO信號進行采樣。