[發(fā)明專利]使用電容檢測(cè)觸摸壓力在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201680033512.5 | 申請(qǐng)日: | 2016-06-10 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107710117A | 公開(公告)日: | 2018-02-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 馬克·博?!斠了?/a>;加利茨·霍弗里;羅伯特·斯科特·塔茲;羅賓·特雷莎·奧利弗;喬納森·卡爾·凱斯;維吉尼亞·沃克·基廷 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 高通股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06F3/041 | 分類號(hào): | G06F3/041;G06F3/044 |
| 代理公司: | 北京律盟知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司11287 | 代理人: | 楊林勳 |
| 地址: | 美國(guó)加利*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 使用 電容 檢測(cè) 觸摸 壓力 | ||
1.一種用于確定觸摸屏上的觸摸壓力水平的方法,所述方法包括:
通過(guò)所述觸摸屏檢測(cè)觸摸事件;
獲得和與所述觸摸事件相關(guān)聯(lián)的特征有關(guān)的數(shù)據(jù),所述特征包括電容值、觸摸面積及/或觸摸持續(xù)時(shí)間;以及
基于所述特征中的一或多者而確定所述觸摸事件的觸摸壓力水平。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其進(jìn)一步包括歸一化所述觸摸面積。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中確定所述觸摸壓力水平進(jìn)一步包括:
使用特征分類器來(lái)對(duì)每一特征進(jìn)行分類;以及
基于所述特征分類及與所述特征相關(guān)聯(lián)的權(quán)重而使用多數(shù)票決規(guī)則分類器來(lái)對(duì)所述觸摸壓力水平進(jìn)行分類,
其中針對(duì)特定用戶,基于與所述特定用戶相關(guān)聯(lián)的訓(xùn)練數(shù)據(jù)而針對(duì)每一特征確立特征分類器及權(quán)重。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其中所述特征分類器為貝葉斯風(fēng)險(xiǎn)分類器BRC,且所述權(quán)重是使用提升機(jī)制確立。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法,其中至少一個(gè)特征的所述權(quán)重為零。
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其中在所述特征分類器中對(duì)與風(fēng)險(xiǎn)觸摸壓力水平相關(guān)聯(lián)的可信度水平進(jìn)行處罰。
7.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其中針對(duì)特定用戶確立特征分類器進(jìn)一步包括:
接收和與所述用戶相關(guān)聯(lián)的多個(gè)觸摸事件有關(guān)的訓(xùn)練數(shù)據(jù);
從所述訓(xùn)練數(shù)據(jù)提取特征數(shù)據(jù);以及
基于所述特征數(shù)據(jù)而確立所述特征分類器。
8.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其進(jìn)一步包括:
基于應(yīng)用說(shuō)明而調(diào)整所述特征分類器;以及
使用相應(yīng)經(jīng)調(diào)整特征分類器來(lái)對(duì)每一特征進(jìn)行分類。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法,其中所述應(yīng)用說(shuō)明包括觸摸壓力水平檢測(cè)粒度。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法,其中所述應(yīng)用說(shuō)明包括與特定觸摸壓力水平相關(guān)聯(lián)的風(fēng)險(xiǎn)。
11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中進(jìn)一步使用所述所確定觸摸壓力水平來(lái)確定觸摸手勢(shì)。
12.一種用于確定觸摸屏上的觸摸壓力水平的設(shè)備,所述設(shè)備包括:
存儲(chǔ)器;以及
處理器,其耦合到所述存儲(chǔ)器,所述處理器進(jìn)行以下操作:
通過(guò)所述觸摸屏檢測(cè)觸摸事件;
獲得和與所述觸摸事件相關(guān)聯(lián)的特征有關(guān)的數(shù)據(jù),所述特征包括電容值、觸摸面積及/或觸摸持續(xù)時(shí)間;以及
基于所述特征中的一或多者而確定所述觸摸事件的觸摸壓力水平。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的設(shè)備,其中所述處理器進(jìn)一步歸一化所述觸摸面積。
14.根據(jù)權(quán)利要求12所述的設(shè)備,其中用以確定所述觸摸壓力水平的所述處理器進(jìn)一步進(jìn)行以下操作:
使用特征分類器來(lái)對(duì)每一特征進(jìn)行分類;以及
基于所述特征分類及與所述特征相關(guān)聯(lián)的權(quán)重而使用多數(shù)票決規(guī)則分類器來(lái)對(duì)所述觸摸壓力水平進(jìn)行分類,
其中針對(duì)特定用戶,基于與所述特定用戶相關(guān)聯(lián)的訓(xùn)練數(shù)據(jù)而針對(duì)每一特征確立特征分類器及權(quán)重。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的設(shè)備,其中所述特征分類器為貝葉斯風(fēng)險(xiǎn)分類器BRC,且所述權(quán)重是使用提升機(jī)制確立。
16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的設(shè)備,其中至少一個(gè)特征的所述權(quán)重為零。
17.根據(jù)權(quán)利要求14所述的設(shè)備,其中在所述特征分類器中對(duì)與風(fēng)險(xiǎn)觸摸壓力水平相關(guān)聯(lián)的可信度水平進(jìn)行處罰。
18.根據(jù)權(quán)利要求14所述的設(shè)備,其中用以針對(duì)特定用戶確立特征分類器的所述處理器進(jìn)一步進(jìn)行以下操作:
接收和與所述用戶相關(guān)聯(lián)的多個(gè)觸摸事件有關(guān)的訓(xùn)練數(shù)據(jù);
從所述訓(xùn)練數(shù)據(jù)提取特征數(shù)據(jù);以及
基于所述特征數(shù)據(jù)而確立所述特征分類器。
19.根據(jù)權(quán)利要求14所述的設(shè)備,其中所述處理器進(jìn)一步進(jìn)行以下操作:
基于應(yīng)用說(shuō)明而調(diào)整所述特征分類器;以及
使用相應(yīng)經(jīng)調(diào)整特征分類器來(lái)對(duì)每一特征進(jìn)行分類。
20.根據(jù)權(quán)利要求19所述的設(shè)備,其中所述應(yīng)用說(shuō)明包括觸摸壓力水平檢測(cè)粒度。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于高通股份有限公司,未經(jīng)高通股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201680033512.5/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:顯示一體型輸入裝置
- 下一篇:帶圓偏光板的觸摸傳感器及圖像顯示裝置
- 同類專利
- 專利分類
G06F 電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理
G06F3-00 用于將所要處理的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)變成為計(jì)算機(jī)能夠處理的形式的輸入裝置;用于將數(shù)據(jù)從處理機(jī)傳送到輸出設(shè)備的輸出裝置,例如,接口裝置
G06F3-01 .用于用戶和計(jì)算機(jī)之間交互的輸入裝置或輸入和輸出組合裝置
G06F3-05 .在規(guī)定的時(shí)間間隔上,利用模擬量取樣的數(shù)字輸入
G06F3-06 .來(lái)自記錄載體的數(shù)字輸入,或者到記錄載體上去的數(shù)字輸出
G06F3-09 .到打字機(jī)上去的數(shù)字輸出
G06F3-12 .到打印裝置上去的數(shù)字輸出
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





