[發(fā)明專利]用于位置精確地裝配電路承載件的方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201680033511.0
• 申請日: 2016-06-02
• 公開（公告）號: CN107873140B
• 公開（公告）日: 2020-12-08
• 發(fā)明（設計）人: J.佐恩;D.基伊斯林格
• 申請（專利權）人: ZKW集團有限責任公司
• 主分類號: H05K3/30
• 分類號: H05K3/30;H05K13/04;H05K13/08
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 姬亞東;劉春元

1.一種用于給電路承載件（2）位置精確地裝配至少一個電子部件（1）的方法，所述電子部件包括至少兩個可彼此分開操控的發(fā)光面（3a，3b，3c），借助于所述電路承載件檢測和通過計算修正量（k）補償所述發(fā)光面（3a，3b，3c）在所述電子部件上的位置偏差，所述方法具有如下步驟：

a）在參照參考點的條件下，光學檢測所述電子部件（1）的至少兩個發(fā)光面（3a，3b，3c）的實際位置；

b）根據(jù)所述電子部件（1）的至少兩個發(fā)光面（3a，3b，3c）的實際位置計算至少一個表征所述發(fā)光面（3a，3b，3c）的幾何地點的實際變量（S_ist）；

c）將所述至少一個實際變量（S_ist）與至少一個理論變量（S_soll）進行比較，以計算至少一個修正量（k），其中所述理論變量（S_soll）為與所述發(fā)光面（3a，3b，3c）關于所述參考點的位置和取向有關的預先定義的值；

d）根據(jù)所述至少一個修正量（k），給所述電路承載件（2）裝配至少一個電子部件（1）。

2.根據(jù)權利要求1所述的方法，

其特征在于，

將所述實際變量（S_ist）和所述理論變量（S_soll）輸送給數(shù)字計算單元或通過其來檢測，在所述數(shù)字計算單元中計算所述修正量（k），其中將所述修正量（k）作為數(shù)字信息信號傳遞給用于根據(jù)步驟d）裝配的裝配裝置。

3.根據(jù)權利要求1或2所述的方法，

其特征在于，

所述修正量（k）包括至少一個矢量，其中所述矢量的方向平行于所述電路承載件（2）的裝配面取向。

4.根據(jù)權利要求3所述的方法，

其特征在于，

所述修正量（k）還包括用于圍繞轉動軸線（z）轉動的角度說明，其中所述轉動軸線正交于所述電路承載件（2）的裝配面取向。

5.根據(jù)權利要求1或2所述的方法，

其特征在于，

所述至少一個實際變量（S_ist）包括表征所述發(fā)光面（3a，3b，3c）的可見棱邊的走向的信息。

6.根據(jù)權利要求1或2所述的方法，

其特征在于，

所述至少一個實際變量（S_ist）包括表征所述發(fā)光面（3a，3b，3c）的可見棱邊的傾斜的信息。

7.根據(jù)權利要求1或2所述的方法，

其特征在于，

所述至少一個實際變量（S_ist）包括表征所述發(fā)光面（3a，3b，3c）的虛擬重心（S_g）的信息，其中所述虛擬重心（S_g）通過在考慮各個發(fā)光面（3a，3b，3c）的實際位置的條件下確定其幾何重心（S₁，S₂，S₃）來確定。

8.根據(jù)權利要求1或2所述的方法，

其特征在于，

所述至少一個實際變量（S_ist）包括表征虛構矩形面的尺寸和位置的信息，其中所述虛構矩形（R）的尺寸以及位置和取向被選擇成，使得面的覆蓋和大小關系是優(yōu)化的。

9.根據(jù)權利要求1或2所述的方法，

其特征在于，

所述理論變量（S_soll）包括關于參考點的位置說明，其中所述參考點布置在所述電子部件（1）的電路承載件（2）或所述電子部件（1）上。

10.根據(jù)權利要求1或2所述的方法，

其特征在于，

所述發(fā)光面（3a，3b，3c）彼此間隔開。