[發明專利]用于檢測高頻信號的方法

有效

• 申請號: 201680031986.6
• 申請日: 2016-05-10
• 公開（公告）號: CN107710002B
• 公開（公告）日: 2020-04-17
• 發明（設計）人: 托馬斯·布洛特;蒂莫·施瓦爾
• 申請（專利權）人: 恩德萊斯和豪瑟爾歐洲兩合公司
• 主分類號: G01R23/06
• 分類號: G01R23/06
• 代理公司: 中原信達知識產權代理有限責任公司 11219
• 代理人: 穆森;戚傳江

1.一種用于檢測高頻信號(22)的方法，包括以下方法步驟：

將高頻信號(22)分開成原始信號(3)和參考信號(4)，

將所述原始信號(3)衰減成被衰減信號(9)，其中所述衰減作為所述原始信號(3)的頻率的函數根據衰減特性而發生，

將所述被衰減信號(9)整流，使得產生第一直流電壓(15)，

將所述參考信號(4)整流，使得產生第二直流電壓(16)，

從所述第一和第二直流電壓(15、16)的比率確定衰減，其中所述比率對應于用于所述原始信號(3)的所述衰減的衰減因子，

從所述衰減因子和衰減特性(17)確定所述高頻信號(22)的頻率，

其中所述原始信號(3)到所述被衰減信號(9)的衰減通過把所述原始信號(3)分配到衰減構件(5)的至少第一和第二線路(6、7)而發生，其中所述第一和第二線路(6，7)具有不同的長度，由此在所述第一線路(6)的第一信號和所述第二線路(7)的第二信號之間產生頻率依賴相位差，其中所述第一信號和所述第二信號在所述衰減構件(5)的輸出(8)處疊加以形成所述被衰減信號(9)。

2.根據權利要求1所述的方法，其中所述第一和第二直流電壓(15、16)在確定所述衰減前被數字化。

3.一種用于使用至少一個傳感器確定物理或化學過程變量的方法，所述至少一個傳感器產生高頻信號，所述高頻信號的頻率作為至少一個過程變量的函數而變化，所述方法包括以下步驟：

借助于根據在權利要求1或2中所述的方法檢測所述高頻信號。

4.一種用于檢測高頻信號(22)的裝置，包括，

信號分配器(2)，所述信號分配器(2)用于將高頻信號(22)分成原始信號(3)和參考信號(4)，

衰減構件(5)，所述衰減構件(5)用于所述原始信號(3)的頻率依賴衰減，其中所述衰減構件(5)具有限定的衰減特性(17)，

第一整流器(10)，所述第一整流器(10)用于將被衰減信號(9)整流成第一直流電壓(15)，

第二整流器(11)，所述第二整流器(11)用于將所述參考信號(4)整流成第二直流電壓(16)，

比較器，所述比較器用于形成所述第一和第二直流電壓(10、11)的比率，

處理器(13)，所述處理器(13)用于從所述原始信號(3)的所述衰減和所述衰減構件(5)的衰減特性(17)確定所述高頻信號(22)頻率，

其中所述衰減構件(5)包括用于分配所述原始信號(3)的至少第一和第二線路(6、7)，其中所述至少第一和第二線路(6、7)具有不同的長度，使得在所述第一線路(6)的第一信號和所述第二線路(7)的第二信號之間產生頻率依賴相位差，其中所述衰減構件(5)在輸出(8)處具有用于疊加所述第一信號和所述第二信號的連接部，使得所述第一信號和所述第二信號在所述輸出(8)處疊加成所述被衰減信號(9)。

5.根據權利要求4所述的裝置，進一步包括A/D轉換器(14)，所述A/D轉換器(14)用于數字化所述第一和第二直流電壓(15、16)。

6.根據權利要求4或5所述的裝置，其中所述信號分配器(2)被實施為威爾金森分配器。

7.一種用于測量物理或化學過程變量的現場設備，包括：至少一個傳感器，所述至少一個傳感器產生高頻信號，所述高頻信號的頻率作為至少一個過程變量的函數而變化；以及用于評估所述高頻信號的根據在權利要求4至6中的至少一項中所述的裝置。