[發明專利]天線測量方法及終端

有效

• 申請號: 201680025212.2
• 申請日: 2016-04-05
• 公開（公告）號: CN107534465B
• 公開（公告）日: 2020-11-10
• 發明（設計）人: 龍星宇;鐘延宗;上官聲長;宋超迪
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: H04W24/00
• 分類號: H04W24/00;H04B7/0404;H04B7/06;H04B7/08
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 馬爽

1.一種天線測量方法，應用于包括至少兩個天線選擇模塊的終端中，其特征在于，包括：

所述終端中的第一天線選擇模塊確定至少兩根被測天線，將確定的所述至少兩根被測天線作為第一測量天線，并將所述第一測量天線加入已占用天線集合中；

所述第一天線選擇模塊確定所述第一測量天線的測量時長；

所述第一天線選擇模塊對所述第一測量天線執行測量操作；

第二天線選擇模塊根據所述已占用天線集合以及所述第一測量天線的測量時長確定第二測量天線以及所述第二測量天線的測量時長，并將所述第二測量天線加入所述已占用天線集合中；

所述第二天線選擇模塊對所述第二測量天線執行測量操作；

當經過所述第一測量天線的測量時長時，所述第一天線選擇模塊和所述第二天線選擇模塊確定所述第一測量天線和所述第二測量天線的測量結果；

其中，所述第一天線選擇模塊及所述第二天線選擇模塊為所述終端中可以獨立使用天線的模塊，所述第二天線選擇模塊選擇所述被測天線的優先級低于所述第一天線選擇模塊；

所述第二天線選擇模塊根據所述已占用天線集合以及所述第一測量天線的測量時長確定第二測量天線以及所述第二測量天線的測量時長，包括：

所述第二天線選擇模塊獲取所述已占用天線集合以及所述第一測量天線的測量時長；

所述第二天線選擇模塊根據所述已占用天線集合確定所述第二測量天線；

所述第二天線選擇模塊計算所述第一測量天線的測量時長與所述第二天線選擇模塊確定所述第二測量天線的時長的差值，將所述差值作為所述第二測量天線的測量時長。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述第二天線選擇模塊獲取所述已占用天線集合以及所述第一測量天線的測量時長，包括：

所述第一天線選擇模塊向所述第二天線模塊發送通知消息，所述通知消息中包括所述已占用天線集合以及所述第一測量天線的測量時長；

所述第二天線選擇模塊接收所述通知消息，并從所述通知消息中獲取所述已占用天線集合以及所述第一測量天線的測量時長。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述第二天線選擇模塊獲取所述已占用天線集合以及所述第一測量天線的測量時長，包括：

所述第二天線選擇模塊從預設存儲單元中獲取所述已占用天線集合以及所述第一測量天線的測量時長。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述第二天線選擇模塊根據所述已占用天線集合確定所述第二測量天線，包括：

所述第二天線選擇模塊從所述已占用天線集合之外的被測天線中選擇至少兩根被測天線作為所述第二測量天線。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述已占用天線集合中包括所述終端的被測天線中每個已占用天線的占用時間段，相應地，所述第二天線選擇模塊根據所述已占用天線集合確定所述第二測量天線，包括：

所述第二天線選擇模塊從所述已占用天線集合中選擇至少一個天線作為待占用天線；

所述第二天線選擇模塊確定所述待占用天線的占用時間段，以使所述待占用天線的占用時間段與所述已占用天線集合中除待占用天線外的其他已占用天線的占用時間段不重疊；

所述第二天線選擇模塊從所述已占用天線集合之外的被測天線中選擇至少一根被測天線，并確定所述至少一根被測天線的占用時間段；

所述第二天線選擇模塊將所述至少一根被測天線與所述待占用天線的集合作為所述第二測量天線。

6.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述第一天線選擇模塊對所述第一測量天線執行測量操作之后，還包括：

所述第一天線選擇模塊將所述已占用天線集合以及所述第一測量天線的測量時長寫入所述預設存儲單元中。

7.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，所述第二天線選擇模塊對所述第二測量天線執行測量操作之后，還包括：

所述第二天線選擇模塊將所述已占用天線集合以及所述第二測量天線的測量時長寫入所述預設存儲單元中。