[發明專利]充電構件、處理盒和電子照相設備有效
| 申請號: | 201680014605.3 | 申請日: | 2016-03-30 |
| 公開(公告)號: | CN107430367B | 公開(公告)日: | 2020-02-21 |
| 發明(設計)人: | 植松敦;谷口智士;渡邊政浩;宮川昇;佐藤太一;青山雄彥 | 申請(專利權)人: | 佳能株式會社 |
| 主分類號: | G03G15/02 | 分類號: | G03G15/02 |
| 代理公司: | 北京魏啟學律師事務所 11398 | 代理人: | 魏啟學 |
| 地址: | 日本東京都大*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 充電 構件 處理 電子 照相 設備 | ||
提供了能夠抑制在長期使用時由于感光構件的不均勻磨耗和污跡引起的圖像缺陷的發生的充電構件。所述充電構件包括導電性彈性層作為表面層。導電性彈性層包含粘結劑和具有開口的碗形樹脂顆粒。充電構件的表面具有源自碗形樹脂顆粒的凹部和凸部。滿足由下式所示的關系,其中,當充電構件以100(g)負荷壓在玻璃板上時,S1是接觸面積的平均值,d1是接觸區域中形成的空間的高度的平均值;和當負荷變為500(g)時,S5是接觸面積的平均值,d5是空間的高度的平均值
技術領域
本發明涉及充電構件,其通過施加電壓使作為待充電構件的電子照相感光構件的表面充電至預定的電位,和涉及使用所述充電構件的處理盒和電子照相圖像形成設備(下文中,稱為“電子照相設備”)。
背景技術
采用電子照相法的電子照相設備主要包括電子照相感光構件(下文中,也簡稱為“感光構件”)、充電裝置、曝光裝置、顯影裝置、轉印裝置和定影裝置。作為充電裝置,通常采用通過將電壓(僅直流電壓的電壓或者直流電壓疊加有交流電壓的電壓)施加至與感光構件的表面接觸或者接近配置在感光構件的表面上的充電構件來使感光構件的表面帶電的接觸充電裝置。
為了使通過接觸充電誘發的感光構件的帶電穩定化,專利文獻1公開了包括表面上具有源自樹脂顆粒等的凸部的表面層的接觸充電用充電構件。通過使用這樣的充電構件,使感光構件的帶電穩定化。然而,當專利文獻1中記載的充電構件與感光構件接觸時,接觸壓力集中在充電構件(充電輥)的表面上的源自樹脂顆粒的凸部,結果,在長期使用時,在感光構件的表面上發生不均勻磨耗,這會由于不均勻磨耗導致豎條紋狀圖像缺陷。
為了解決該問題,專利文獻2提出了包括包含具有開口的碗形樹脂顆粒的導電性樹脂層的充電構件,其中充電構件在充電構件的表面上具有源自碗形樹脂顆粒的開口和邊緣的凹凸形狀。通過使用專利文獻2中記載的充電構件,感光構件上的接觸壓力通過在充電構件的表面上的碗形樹脂顆粒的開口的邊緣(下文中,也簡單稱為“邊緣”)變形而松弛。出于上述原因,甚至在長期使用時也可以抑制感光構件的不均勻磨耗。
專利文獻1:日本專利申請特開No.2008-276026
專利文獻2:日本專利申請特開No.2011-237470
發明內容
然而,伴隨著近來電子照相的速度和耐久性的提高,不僅要求抑制感光構件的不均勻磨耗,還要求進一步提高耐污染性。盡管專利文獻2中記載的充電構件可抑制感光構件的不均勻磨耗,但是耐污染性不一定充分。一般地,充電構件上的污跡由于以下現象而發生。即使在轉印過程之后也殘留在感光構件上的調色劑組分(下文中,也稱為“殘余調色劑”)正常應當在清潔過程中用清潔刮板等除去。然而,作為清潔刮板的振動或微小劃痕的出現的結果,殘余調色劑通過清潔刮板可滑移并且即使在清潔過程之后也殘留在感光構件上。調色劑與充電構件接觸從而引起充電構件上的污跡。
根據本發明人的研究,專利文獻2中提出的充電構件提供了以下效果:減少調色劑通過清潔刮板滑移的量,由此充電構件不太可能造成感光構件上的劃痕并且由于對感光構件的追隨性提高而能夠將清潔刮板的振動控制在一定程度。然而,盡管減少了調色劑的滑移量,但是由于長期使用而使殘余調色劑逐漸沉積從而蓄積在充電構件上,這會引起充電構件上的污跡。
特別地,由于調色劑在低溫和低濕環境下的高流動性,從而促進調色劑的滑移,并且導致圖像缺陷的充電構件上的污跡傾向于變得明顯。出于該原因,會產生由于沉積而蓄積的污跡所引起的點狀和橫條紋狀圖像。根據本發明人的進一步研究,認為專利文獻2中提出的充電構件被污染的原因在于,在充電構件與感光構件之間的輥隙部中,邊緣的接觸面積增加從而使污跡容易粘附至接觸部。
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