[發明專利]從指定取樣時間和預定取樣時間確定的參考電極錯誤陷阱

在審

• 申請號: 201680007333.4
• 申請日: 2016-01-25
• 公開（公告）號: CN107209141A
• 公開（公告）日: 2017-09-26
• 發明（設計）人: S.馬基托斯;A.史密斯
• 申請（專利權）人: 生命掃描蘇格蘭有限公司
• 主分類號: G01N27/327
• 分類號: G01N27/327
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司72001
• 代理人: 葉培勇,付曼

1.一種分析物測量系統，包括：

測試條，所述測試條包括：

襯底；

多個電極，所述多個電極連接至相應電極連接器，其中試劑靠近所述多個電極設置；和

分析物測量儀，所述分析物測量儀包括：

外殼；

測試條端口連接器，所述測試條端口連接器被配置成連接至所述測試條的所述相應電極連接器；以及

微處理器，所述微處理器與所述測試條端口連接器電連通以施加電信號或測量來自所述多個電極的電信號，其中所述微處理器被配置成：

(a)將第一信號施加至所述多個電極，使得確定流體樣品的物理特性；

(b)將第二信號施加至所述多個電極的第一電極和第二電極；

(c)靠近所述指定取樣時間點、從所述第一電極和所述第二電極中的每個電極測量來自所述電極的信號輸出；

(d)靠近預定取樣時間點、從所述第一電極和所述第二電極中的每個電極測量來自所述電極的另一個信號輸出；

(e)計算在所述指定取樣時間點處測量的所述第一電極的信號輸出和在所述預定取樣時間點處測量的所述第一電極的信號輸出之間的第一差動；

(f)計算在所述指定取樣時間點處測量的所述第二電極的信號輸出和在所述預定取樣時間點處測量的所述第二電極的信號輸出之間的第二差動；

(g)評估所述第一差動和所述第二差動中的任一個是否小于預定閾值；并且

(h)如果所述第一差動和所述第二差動中的一個小于所述偏置閾值，則通告錯誤。

2.根據權利要求1所述的系統，其中所述多個電極包括四個電極，其中所述第一電極和所述第二電極用于測量所述分析物濃度，并且第三電極和第四電極用于測量所述物理特性。

3.根據權利要求2所述的系統，其中所述第一電極、所述第二電極、所述第三電極和所述第四電極設置在提供于所述襯底上的同一腔室中。

4.根據權利要求3所述的系統，其中所有所述電極均設置在由所述襯底限定的所述同一平面上。

5.根據權利要求3所述的系統，其中將所述試劑靠近所述至少兩個其它電極設置，并且不將試劑設置在所述至少兩個電極上。

6.根據權利要求1所述的系統，其中在所述第一差動閾值和所述第二差動閾值兩者小于所述預定閾值時，通告所述錯誤。

7.根據權利要求1所述的系統，其中所述預定閾值包括約100納安。