[發明專利]測試裝置

有效

• 申請號: 201680007209.8
• 申請日: 2016-01-26
• 公開（公告）號: CN107209207B
• 公開（公告）日: 2020-12-29
• 發明（設計）人: 樸商德
• 申請（專利權）人: 李諾工業股份有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 楊文娟;臧建明

本發明揭示一種用于測試物件的電性質的測試裝置。測試裝置包含：物件支撐單元，被設置以用于支撐物件；罩蓋單元，包含耦接至物件支撐單元的罩蓋主體，以及由罩蓋主體支撐以便朝向與遠離物件移動的推動器；以及壓力調整器，包含：在接觸推動器的同時可旋轉地設置于罩蓋主體中且具有多級接觸按壓部分的多級調整凸輪，多級接觸按壓部分的接觸半徑取決于旋轉角而變化，使得推動器可處于后移位置中且被定位成與罩蓋主體相隔多種按壓距離；以及操作多級調整凸輪的操作單元。

技術領域

符合例示性實施例的設備以及方法涉及一種用于測試諸如半導體的電子組件的測試裝置，且更特定言之，涉及一種具有用于按壓電子組件以檢驗電性質的推動器(pusher)的預燒插口(burn-in socket)。

背景技術

在制造諸如積體電路(integrated circuit；IC)的電子組件的程序中，需要測試裝置來檢驗最終制造的電子組件。此類測試裝置使用預燒插口以用于在高溫條件下測試電子組件。

預燒插口包含具有用以容納待測試電子組件的容納部分的插入件，以及與插入件進行鉸鏈連接以敞開/閉合容納部分的罩蓋。罩蓋包含用于在測試容納于插入件中的電子組件時選擇性地按壓測試組件的推動器，以及用于在高溫條件下測試電子組件時提供冷卻效應的熱耗散構件(heat-dissipation member)。

因為預燒插口包含用于按壓電子組件的推動器以及用于耗散熱的熱耗散構件，所以存在按壓機構非常復雜且制造成本高的問題。

發明內容

技術問題

一或多個例示性實施例可提供一種具有簡單結構且以低成本而制造的測試裝置。

另一例示性實施例可提供一種能夠容易地測試各種電子產品而不改變測試裝置的測試裝置。

又一例示性實施例可提供一種具有改良式壽命的測試裝置。

再一例示性實施例可提供一種能夠測試對應于各種厚度的物件的測試裝置。

解決技術的方法

根據第一例示性實施例的方式，提供一種用于測試物件的電性質的測試裝置，包含：物件支撐單元(object support unit)，被設置以用于支撐物件；罩蓋單元(coverunit)，包含耦接至物件支撐單元的罩蓋主體(cover body)，以及由罩蓋主體支撐以便朝向與遠離物件移動的推動器；以及壓力調整器(pressure adjuster)，包含：在接觸推動器的同時可旋轉地設置于罩蓋主體中且具有多級接觸按壓部分(multi-stagecontactpressingpotion)的多級調整凸輪(multi-stage adjusting cam)，多級接觸按壓部分的接觸半徑取決于旋轉角而變化，使得推動器可處于后移位置(moving-back position)中且被定位成與罩蓋主體相隔多種按壓距離(pressing distance)；以及操作多級調整凸輪的操作單元(operation unit)。

多級調整凸輪可通過鉸鏈而耦接至罩蓋主體，且多級接觸按壓部分可包含在鉸鏈的半徑方向上形成于外部表面上的多個扁平表面。

罩蓋單元可包括將推動器彈性地支撐為與罩蓋主體相抵的彈簧。

測試裝置可還包括在推動器與多級調整凸輪之間的托盤構件(tray member)。

托盤構件可為可拆卸的。

發明功效

根據本發明的一種測試裝置能夠容易地測試各種電子產品而不改變測試裝置。

所述測試裝置可以通過改進推動器的操作機構而以簡單的結構設計并以低成本制造。

附圖說明