[發明專利]一種使用過渡數據控制過程設備的方法

有效

• 申請號: 201680007033.6
• 申請日: 2016-01-22
• 公開（公告）號: CN107407917B
• 公開（公告）日: 2019-11-22
• 發明（設計）人: J.古加里亞;N.布胡塔尼;N.庫巴;K.格霍斯;M.奇奧亞
• 申請（專利權）人: ABB瑞士股份有限公司
• 主分類號: G05B19/042
• 分類號: G05B19/042;G05B19/05;G05B19/418;G05B23/02;G05B17/02
• 代理公司: 72001 中國專利代理(香港)有限公司
• 代理人: 楊忠;劉春元<國際申請>=PCT/IB2

1.一種用于使用具有控制器(115)的控制系統(110)控制過程設備中的過程的方法(200)，所述過程設備具有一個或多個現場裝置(130、140和150)，所述過程包括第一穩態、第二穩態和在所述第一穩態與所述第二穩態之間的過渡，在所述第一穩態中，所述控制器(115)在第一工作區域內控制所述過程，在所述第二穩態中，所述控制器(115)在第二工作區域內控制所述過程，所述方法借助于所述控制系統(110)而包括：

(i)接收來自所述一個或多個現場裝置(130、140和150)的涉及與所述過程相關的第一過程變量和第二過程變量的過程數據；

(ii)根據所述第一穩態和所述第二穩態之間的所述第一過程變量和所述第二過程變量中的一個或多個的所述過程數據，確定關鍵性能指標的一個或多個第一值，其中所述關鍵性能指標表示所述過渡的輪廓；

(iii)將所述一個或多個第一值與對應于所述關鍵性能指標的一個或多個第一閾值進行比較，其中根據來自所述第一過程變量和所述第二過程變量中的一個或多個的歷史過程數據的一個或多個過渡，計算所述一個或多個第一閾值；

(iv)使用過渡模型確定所述第一過程變量和所述第二過程變量對所述過渡的影響，其中，根據所述第一過程變量和所述第二過程變量的歷史過程數據建立所述過渡模型，包括：根據所述歷史過程數據確定多個過渡、確定所述多個過渡中各個過渡的至少一個關鍵性能指標、基于所述至少一個關鍵性能指標從所述多個過渡中選擇一組過渡并且利用所選一組過渡期間的過程數據來建立所述過渡模型；

(v)基于所述關鍵性能指標的所述一個或多個第一值和所述一個或多個第一閾值的比較，確定要被校正的所述第一過程變量和所述第二過程變量中的一個或多個的一個或多個校正因子，以用于控制所述過程設備(100)中的過程。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法進一步包括：

通過將所述第一過程變量的過程數據和所述第二過程變量的過程數據與過渡模型(125)進行比較，確定要被校正的過程變量。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述關鍵性能指標為下者中的一個：過渡開始和過渡結束之間的時期、過渡中過調量的百分數、過渡中的振蕩數、過渡梯度。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述關鍵性能指標為基于下者中的一個或多個的加權平均值：過渡開始和過渡結束之間的時期、過渡中的過調量、過渡中的振蕩數、過渡梯度。

5.根據權利要求1所述的方法，進一步包括：

(i)將所述校正因子傳輸到所述控制器(115)，和

(ii)通過所述校正因子更改要被校正的過程變量的設定點。

6.一種用于控制過程設備中的過程的系統(100)，所述過程包括第一穩態、第二穩態和在所述第一穩態與所述第二穩態之間的過渡，所述系統包括：

(i)一個或多個現場裝置(130、140和150)；

(ii)控制器(115)，其可操作地聯接到所述一個或多個現場裝置，以控制過程；

(iii)歷史數據庫(170)，其配置成存儲與一個或多個過程變量相關的歷史過程數據；和

(iv)服務器(120)，其通信聯接到所述控制器和所述歷史數據庫(170)，所述服務器(120)配置成：

a.接收來自至少一個現場裝置的涉及與所述過程相關的第一過程變量和第二過程變量的過程數據；

b.根據所述第一穩態和所述第二穩態之間的所述第一過程變量和所述第二過程變量的至少一個的過程數據，確定與所述過渡相關的至少一個關鍵性能指標的至少一個第一值；

c. 將所述至少一個關鍵性能指標的確定的至少一個第一值和與所述至少一個關鍵性能指標相關的至少一個閾值進行比較；

d. 使用過渡模型確定所述第一過程變量和所述第二過程變量對所述過渡的影響，其中，根據所述第一過程變量和所述第二過程變量的歷史過程數據建立所述過渡模型，包括：根據所述歷史過程數據確定多個過渡、確定所述多個過渡中各個過渡的至少一個關鍵性能指標、基于所述至少一個關鍵性能指標從所述多個過渡中選擇一組過渡并且利用所選一組過渡期間的過程數據來建立所述過渡模型；和

e.基于所述至少一個關鍵性能指標的所述至少一個第一值和所述至少一個閾值的比較，確定要被校正的所述第一過程變量和所述第二過程變量的至少一個的校正因子，以用于控制所述過程設備(100)中的過程。