[發明專利]低無源互調同軸連接器測試接口

有效

• 申請號: 201680006599.7
• 申請日: 2016-01-12
• 公開（公告）號: CN107251332B
• 公開（公告）日: 2019-06-04
• 發明（設計）人: M·格拉斯爾;W·茲斯勒;A·格拉比西勒
• 申請（專利權）人: 斯賓納有限公司
• 主分類號: H01R13/193
• 分類號: H01R13/193;H01R13/52;H01R13/622;H01R13/6583;H01R24/40
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038
• 代理人: 朱海濤

1.一種同軸RF測試連接器，其具有用于在向內方向上接納兼容性同軸連接器(100)的開口，所述同軸RF測試連接器包括內導體(40)和外導體(50)，所述內導體和所述外導體兩者都與中心軸線(29)同軸地布置，

所述外導體(50)包括用于保持圓形的接觸彈簧(55)的凹槽(45)，

所述接觸彈簧包括多個弧形的接觸指狀件(56、221、223)，在各個接觸指狀件之間具有間隙(57)，所述接觸指狀件從用于將接觸指狀件附接在所述凹槽內的基座(222)延伸，并且至少一個接觸指狀件(56、221、223)具有用于在相對于中心軸線(29)的徑向的方向上接觸兼容性同軸連接器(100)的外導體(120)的第一接觸部分(221)，

其特征在于，

在所述基座(222)和所述第一接觸部分(221)之間設置有第二接觸部分(223)，

該第二接觸部分(223)與凹槽(45)的側壁(58)電容接觸，并且

介電材料的絕緣盤(230)處于所述第二接觸部分(223)和所述側壁(58)之間。

2.根據權利要求1所述的同軸RF測試連接器，其特征在于，所述接觸彈簧(55)沿徑向方向焊合和/或焊接到所述同軸RF測試連接器的所述外導體(50)。

3.根據權利要求1或2所述的同軸RF測試連接器，其特征在于，所述側壁(58)沿向外方向定向，因此面向如下方向：該方向是朝向兼容性同軸連接器的方向。

4.根據權利要求1或2所述的同軸RF測試連接器，其特征在于，所述基座(222)基本上徑向包圍所述接觸指狀件(56、221、223)。

5.根據權利要求1或2所述的同軸RF測試連接器，其特征在于，所述同軸RF測試連接器的所述外導體(50)包括用于保持所述接觸彈簧(55)的彈簧座(51)。

6.根據權利要求5所述的同軸RF測試連接器，其特征在于，所述彈簧座(51)包括螺紋，該螺紋與所述同軸RF測試連接器的外導體基座處的螺紋相配對，用于將彈簧座擰在所述同軸RF測試連接器的所述外導體(50)上。

7.根據權利要求1或2所述的同軸RF測試連接器，其特征在于，所述接觸彈簧(55)包括以下材料中的至少一種：銅鈹合金、黃銅、鋼。

8.一種同軸RF測試組件，其包括：根據權利要求1-7中任一項所述的同軸RF測試連接器(30)；由安裝懸架(10)保持的連接線(25)和內連接器(20)，所述連接線(25)連接同軸RF測試連接器(30)和內連接器(20)。