[發明專利]面形狀不良產生或原因區域推斷方法、裝置及記錄介質有效
| 申請號: | 201680005686.0 | 申請日: | 2016-01-22 |
| 公開(公告)號: | CN107249772B | 公開(公告)日: | 2019-06-14 |
| 發明(設計)人: | 桑山卓也;有賀高 | 申請(專利權)人: | 新日鐵住金株式會社 |
| 主分類號: | B21D22/00 | 分類號: | B21D22/00;G06F17/50 |
| 代理公司: | 永新專利商標代理有限公司 72002 | 代理人: | 高迪 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 形狀 不良 產生 區域 推斷 方法 原因 裝置 程序 以及 記錄 介質 | ||
1.一種面形狀不良產生區域推斷方法,推斷從塑性加工開始時刻TSTART起至塑性加工結束時刻TEND為止將被加工材料塑性加工而得的塑性加工品的面形狀不良的產生區域,其特征在于,該面形狀不良產生區域推斷方法具備:
第一應力分布取得工序,通過有限元法,取得作為上述塑性加工開始時刻TSTART之后、并且是上述塑性加工結束時刻TEND之前的第一加工時刻T1的上述被加工材料的應力的分布即第一應力分布σ(T1);
第二應力分布取得工序,通過有限元法,取得作為上述第一加工時刻T1之后、并且是上述塑性加工結束時刻TEND之前或者與之同時的第二加工時刻T2的上述被加工材料的應力的分布即第二應力分布σ(T2);
比較應力分布取得工序,基于上述第一應力分布σ(T1)與上述第二應力分布σ(T2)的比較,取得上述被加工材料的比較應力的分布即比較應力分布σ(T1,T2);
分割比較應力分布取得工序,通過將上述比較應力分布σ(T1,T2)分割成多個分割區域Dk,取得各個分割區域Dk的比較應力的分布即分割比較應力分布σDIV(T1,T2);以及
面形狀不良產生區域推斷工序,基于使用上述分割比較應力分布σDIV(T1,T2),分別對上述分割區域Dk求出的面形狀不良產生評價指標α,推斷上述分割區域Dk各自是否是面形狀不良的產生區域,
上述面形狀不良產生評價指標α是相互分離的兩個元素間的比較應力的差分的最大值。
2.如權利要求1所述的面形狀不良產生區域推斷方法,其特征在于,
在上述分割比較應力分布取得工序中,
將上述比較應力分布σ(T1,T2)中的包含比較應力最小的元素的第一分割區域D1劃分為上述多個分割區域Dk中的一個,并且將從上述比較應力分布σ(T1,T2)中排除上述第一分割區域D1后的比較應力分布σ(T1,T2)中的包含比較應力最小的元素的第二分割區域D2劃分為上述多個分割區域Dk中的一個。
3.如權利要求1所述的面形狀不良產生區域推斷方法,其特征在于,
在上述分割比較應力分布取得工序中,
將上述比較應力分布σ(T1,T2)中的包含相互分離的兩個元素間的比較應力的差分達到最大的組合的兩個元素的第一分割區域D1劃分為上述多個分割區域Dk中的一個,并且將從上述比較應力分布σ(T1,T2)中排除上述第一分割區域D1后的比較應力分布σ(T1,T2)中的包含相互分離的兩個元素間的比較應力的差分達到最大的組合的兩個元素的第二分割區域D2劃分為上述多個分割區域Dk中的一個。
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