[發明專利]硅油處理二氧化硅粒子以及電子照相用調色劑有效
| 申請號: | 201680005113.8 | 申請日: | 2016-01-21 |
| 公開(公告)號: | CN107108240B | 公開(公告)日: | 2021-10-22 |
| 發明(設計)人: | 山野友也;中村正博;小松原膽治 | 申請(專利權)人: | 株式會社德山 |
| 主分類號: | C01B33/18 | 分類號: | C01B33/18;G03G9/08 |
| 代理公司: | 北京匯思誠業知識產權代理有限公司 11444 | 代理人: | 龔敏;王剛 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 硅油 處理 二氧化硅 粒子 以及 電子 照相 調色 | ||
1.一種硅油處理二氧化硅粒子,其具備二氧化硅粒子本體和硅油,其中:
所述二氧化硅粒子本體的BET比表面積為70m2/g以上120m2/g以下,視密度為20g/l以上35g/l以下,
所述二氧化硅粒子本體由所述硅油進行了表面處理,
所述硅油中,從所述二氧化硅粒子本體的表面游離出來的游離硅油的量相對于所述二氧化硅粒子本體為2.0質量以上%5.0質量%以下,
對粒徑中值為5μm以上8μm以下的苯乙烯-丙烯酸樹脂粒子100質量份混合了所述硅油處理二氧化硅粒子2質量份而得到的表面處理苯乙烯-丙烯酸樹脂粒子的聚集度為15%以下。
2.根據權利要求1所述的硅油處理二氧化硅粒子,其中:
在測量范圍20~30nm、30~40nm和50~70nm中的所述二氧化硅粒子本體的分形形狀參數α值中的最大值αmax為2.9以上。
3.根據權利要求1或2所述的硅油處理二氧化硅粒子,其中:
利用氦氣比重瓶法測得的所述二氧化硅粒子本體的粒子密度為2.23g/cm3以上。
4.一種電子照相用調色劑,其含有根據權利要求1到3中任一項權利要求所述的硅油處理二氧化硅粒子作外部添加劑。
5.一種硅油處理二氧化硅粒子的制造方法,其中:
該硅油處理二氧化硅粒子的制造方法包括:準備BET比表面積為70m2/g以上120m2/g以下、且視密度為20g/l以上35g/l以下的二氧化硅粒子本體的工序;以及
對所述二氧化硅粒子本體添加硅油,以所述硅油覆蓋所述二氧化硅粒子本體的表面的工序,
該硅油處理二氧化硅粒子的制造方法得到權利要求1所述的硅油處理二氧化硅粒子。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于株式會社德山,未經株式會社德山許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201680005113.8/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種UV光離子廢氣凈化裝置
- 下一篇:UV光解凈化器





