[發明專利]用于非破壞性測試的基于無空隙內含物的參考標件及制作方法

在審

• 申請號: 201680004086.2
• 申請日: 2016-06-30
• 公開（公告）號: CN107003286A
• 公開（公告）日: 2017-08-01
• 發明（設計）人: S.孫達拉伊;M.R.平特;M.D.佩頓;M.H.阿爾伯特;S.P.特納;D.M.德德里克
• 申請（專利權）人: 霍尼韋爾國際公司
• 主分類號: G01N29/30
• 分類號: G01N29/30;G01N29/07;G01N29/06
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司72001
• 代理人: 孫鵬,張濤

1.一種用于校準超聲掃描裝置的參考標件，包括：

第一部分，包括第一材料并且具有第一面和與所述第一面相對的第二面；

第二部分，包括第二材料并且具有第一面和與所述第一面相對的第二面，所述第二部分的第二面與所述第一部分的第一面相鄰并形成界面；

軸向延伸通過所述第一部分的第一面并通過所述第二部分的第二面的參考材料；

其中第一部分和第二部分被配置成封閉所述參考材料，使得所述參考標件在所述第一材料和所述參考材料之間的界面處以及在所述第二材料和所述參考材料之間的界面處無空隙。

2.根據權利要求1所述的參考標件，其中所述第一材料包括陶瓷、硅、聚合材料、石墨、鋼、鐵、鋁、銅、鈦、鎢、鉭、金、錳、及其合金和組合中的至少一個。

3.根據權利要求1或2所述的參考標件，其中所述參考材料包括鋁土、硅石、鋼及其組合中的至少一個。

4.根據權利要求1-3中任一項所述的參考標件，其中所述第一材料和所述參考材料被配置成使得經受所述參考標件的超聲波的反射回波具有相位反轉。

5.根據權利要求1-4中任一項所述的參考標件，其中所述參考標件不包含具有大于180微米的寬度并且不創建相位反轉回波的不連續。

6.一種形成用于校準超聲掃描的參考標件的方法，包括：

從第一基體材料形成圓盤，所述圓盤具有第一面、第二面、在所述第一面和所述第二面之間延伸的中心軸線、以及在平行于所述中心軸線的方向上延伸的開口；

將參考材料放置在所述開口內，所述參考材料從所述圓盤延伸通過所述第一面；

在垂直于所述圓盤的中心軸線的方向上對圓盤加熱并施加壓力，使得圍繞所述參考材料的空間無空隙；

將第二基體材料鑄造到圓盤上，使得所述參考材料嵌入在所述第一基體材料和第二基體材料內，并且圍繞所述參考材料的空間和在所述圓盤的第一面與所述第二基體材料之間的空間無空隙。

7.根據權利要求6所述的方法，其中所述第一基體材料包括陶瓷、硅、聚合材料、石墨、鋼、鐵、鋁、銅、鈦、鎢、鉭、金、錳、及其合金和組合中的至少一個。

8.根據權利要求6和7中任一項所述的方法，其中所述參考材料包括鋁土、硅石、鋼及其組合中的至少一個。

9.根據權利要求6-8中任一項所述的方法，其中所述第一基體材料和所述參考材料被配置成使得經受所述參考標件的超聲波的反射回波具有相位反轉。

10.根據權利要求6-9中任一項所述的方法，其中所述參考標件不包含具有大于180微米的寬度并且不創建相位反轉回波的不連續。