[發明專利]去除在磁共振成像的重影偽影的方法及為此的磁共振裝置

有效

• 申請號: 201680002068.0
• 申請日: 2016-02-05
• 公開（公告）號: CN107205686B
• 公開（公告）日: 2020-08-07
• 發明（設計）人: 芮鐘喆;李周瑛;陳坰奐
• 申請（專利權）人: 韓國科學技術院
• 主分類號: A61B5/055
• 分類號: A61B5/055;A61B5/00;G01R33/56
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 李洋;青煒

根據實施例，提供復原磁共振成像的方法。復原磁共振成像的方法，其步驟可包括：接收回波平面成像(echo planner imaging)數據；在回波平面成像數據的K?空間數據，獲得偶數次的掃描線成像和奇數次的掃描線成像；及利用偶數次的掃描線成像及奇數次的掃描線成像，復原被損失的部分。

技術領域

本發明涉及在磁共振成像(magnetic resonance imaging，MRI)裝置適用回波平面成像(echo palnner imaging，EPI)方法，為了去除在獲得的回波平面成像數據發生的重影偽影的方法。

背景技術

磁共振成像是在一定的磁場內，收集將排列的元素由無線電頻率(RF)脈沖共振出的信號，獲得人體內部成像的技術。作為以超高速獲得磁共振成像的代表性方法，具有回波平面成像(echo planner imaging，EPI)技術。回波平面成像技術在40至100ms時間期間，可接收單一的自由感應衰減(FID；Free Induction Decay)信號中的磁共振(MagneticResonance)圖像，可實現超高速成像技術。由回波平面成像的快速掃描技術，可減少因目標移動發生的缺陷，或磁共振成像(MRI；Magnetic Resonance Imaging)的問題。但是，回波平面成像技術生成大領域梯度，大概由1kHz的比率進行交換，所以，從硬件上不容易體現圖像，并且得到目標的磁化率(magnetic susceptibility)的影響，容易發生圖像的嚴重歪曲。

與由一定方向讀取數據的其他方法不同，在回波平面成像技術，因讀取k-空間偶數次的掃描線和奇數次的掃描線數據的方向不同，會發生各線間的位相差。因這些位相差在成像域生成重影偽影(ghost artifact)，且這妨礙回波平面成像的正確地分析，所以，用于去除其的方法被很多地研究。

代表性地具有，得到被復原的成像之前得到參考成像(reference scan)之后，在k-空間計算偶數次的掃描線和奇數次的掃描線間的位相差，補正對象成像位相差的方法。但是，這需要附加的成像，需要更長的時間。因此，使用這種方法時，為了彌補時間上的缺點，在附加成像上大多利用只得到3個掃描線進行補正的方法。但是，在這種情況也是受到磁共振成像裝置內的線圈繞度的影響，具有不可完全地去除重影偽影的缺點。

此外，也有修改用于獲得回波平面成像的序列，得到可抵消重影偽影(ghostartifact)的附加成像的方法，但是，這也需要得到本成像之外的附加成像，所以，具有需要附加時間的缺點。

發明內容

技術課題

本發明的目的是當復原磁共振成像時，不獲得基準成像(reference scan)也能去除在磁共振成像裝置的回波平面成像生成的重影偽影(ghost artifact)。

技術方案

根據實施例，提供一種復原磁共振成像的方法。復原磁共振成像的方法，其步驟可包括：接收回波平面成像(echo planner imaging)數據；在回波平面成像數據的K-空間數據，獲得偶數次的掃描線成像和奇數次的掃描線成像；及利用偶數次的掃描線成像及奇數次的掃描線成像，復原被損失的部分。

在這種情況下，利用所述偶數次的掃描線成像及所述奇數次的掃描線成像，復原被損失的部分的步驟，可包括以消滅濾波器存在于k-空間為基礎，將所述偶數次的掃描線成像和所述奇數次的掃描線成像，構成為分塊漢克爾矩陣，通過低鏈接矩陣的完成化算法，插入未被測定的傅里葉數據，來復原被損失的部分。

將所述偶數次的掃描線成像和所述奇數次的掃描線成像，構成為分塊漢克爾矩陣，復原被損失的部分的步驟，可包括在頻率域利用所述消滅濾波器和k-空間的卷積演算的交換法則，將所述偶數次的掃描線成像和所述奇數次的掃描線成像，變換為分塊漢克爾矩陣的形態。