[發明專利]用漸變孔徑光學積分法測量單模光纖模場直徑的方法有效
| 申請號： | 201680000896.0 | 申請日： | 2016-01-11 |
| 公開（公告）號： | CN106537086B | 公開（公告）日： | 2019-02-22 |
| 發明（設計）人： | 周瑾;周文俊 | 申請（專利權）人： | 周瑾;周文俊 |
| 主分類號： | G01B11/08 | 分類號： | G01B11/08 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 518000 廣東省深圳市南山區*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 漸變 孔徑 光學 積分 測量 單模 光纖 直徑 新方法 | ||
【說明書】：
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