[發(fā)明專利]便攜式電子設(shè)備、電容觸摸屏和電容檢測電路有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201680000660.7 | 申請日: | 2016-03-29 |
| 公開(公告)號: | CN107466368B | 公開(公告)日: | 2019-05-31 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 蔣宏 | 申請(專利權(quán))人: | 深圳市匯頂科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R27/26 | 分類號: | G01R27/26 |
| 代理公司: | 上海晨皓知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 31260 | 代理人: | 成麗杰 |
| 地址: | 518045 廣東省深圳*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 便攜式 電子設(shè)備 電容 觸摸屏 檢測 電路 | ||
1.一種電容檢測電路,其特征在于,包括:
放大器,所述放大器的主極點(diǎn)可控,所述放大器的反相輸入端用于連接待測電容;
反饋電容模塊,所述反饋電容模塊連接在所述放大器的反相輸入端與所述放大器的輸出端之間,所述反饋電容模塊的容值可調(diào);
反饋電阻模塊,所述反饋電阻模塊連接在所述放大器的反相輸入端與所述放大器的輸出端之間,所述反饋電阻模塊的阻值可調(diào);
電容計(jì)算模塊,所述電容計(jì)算模塊與所述放大器的輸出端相連,所述電容計(jì)算模塊用于根據(jù)所述放大器的輸出信號檢測所述待測電容的容值變化;
其中,所述放大器的主極點(diǎn)頻率大于所述電容檢測電路的最高工作頻率,且所述主極點(diǎn)頻率與所述最高工作頻率之間的差值小于預(yù)設(shè)值。
2.如權(quán)利要求1所述的電容檢測電路,其特征在于,所述放大器獨(dú)立設(shè)置或由分立晶體管器件構(gòu)成。
3.如權(quán)利要求1所述的電容檢測電路,其特征在于,所述反饋電容模塊為容值連續(xù)可變的電容器,或者所述反饋電容模塊包括多個并聯(lián)的第一電容支路,每個第一電容支路包括串聯(lián)的第一切換開關(guān)和第一反饋電容。
4.如權(quán)利要求1所述的電容檢測電路,其特征在于,所述反饋電阻模塊為阻值連續(xù)可變的電阻器,或者所述反饋電阻模塊包括多個并聯(lián)的第一電阻支路,每個第一電阻支路包括串聯(lián)的第二切換開關(guān)和第一反饋電阻。
5.如權(quán)利要求2所述的電容檢測電路,其特征在于,當(dāng)所述放大器為全差分放大器時,所述全差分放大器具有同相輸入端、反相輸入端、同相輸出端、反相輸出端和輸出共模電壓控制端,所述電容檢測電路還包括第一反饋電阻陣列、第一反饋電容陣列、第一電阻和失調(diào)電壓控制端,其中,所述第一反饋電阻陣列連接在所述同相輸入端和所述反相輸出端之間,所述第一反饋電容陣列與所述第一反饋電阻陣列并聯(lián),所述同相輸入端通過所述第一電阻與所述失調(diào)電壓控制端相連,所述反饋電容模塊連接在所述反相輸入端與所述同相輸出端之間,所述反饋電阻模塊與所述反饋電容模塊并聯(lián)。
6.如權(quán)利要求5所述的電容檢測電路,其特征在于,所述第一反饋電容陣列包括多個并聯(lián)的第二電容支路,每個第二電容支路包括串聯(lián)的第三切換開關(guān)和第二反饋電容,所述第一反饋電阻陣列包括多個并聯(lián)的第二電阻支路,每個第二電阻支路包括串聯(lián)的第四切換開關(guān)和第二反饋電阻。
7.如權(quán)利要求2所述的電容檢測電路,其特征在于,當(dāng)所述放大器為全差分放大器時,所述全差分放大器具有同相輸入端、反相輸入端、同相輸出端、反相輸出端和輸出共模電壓控制端,所述電容檢測電路還包括第二反饋電阻陣列、第二反饋電容陣列和第一電容,其中,所述第二反饋電阻陣列連接在所述同相輸入端和所述反相輸出端之間,所述第二反饋電容陣列與所述第二反饋電阻陣列并聯(lián),所述同相輸入端通過所述第一電容接地,所述反饋電容模塊連接在所述反相輸入端與所述同相輸出端之間,所述反饋電阻模塊與所述反饋電容模塊并聯(lián)。
8.如權(quán)利要求7所述的電容檢測電路,其特征在于,所述第二反饋電容陣列包括多個并聯(lián)的第三電容支路,每個第三電容支路包括串聯(lián)的第五切換開關(guān)和第三反饋電容,所述第二反饋電阻陣列包括多個并聯(lián)的第三電阻支路,每個第三電阻支路包括串聯(lián)的第六切換開關(guān)和第三反饋電阻。
9.如權(quán)利要求1所述的電容檢測電路,其特征在于,所述放大器的主極點(diǎn)頻率跟隨所述電容檢測電路的最高工作頻率進(jìn)行變化。
10.如權(quán)利要求1所述的電容檢測電路,其特征在于,所述反饋電容模塊和所述反饋電阻模塊共同產(chǎn)生一個可控極點(diǎn),該可控極點(diǎn)對應(yīng)的頻率在所述電容檢測電路的最低工作頻率與最高工作頻率之間變化。
11.如權(quán)利要求10所述的電容檢測電路,其特征在于,所述電容檢測電路的第一工作頻段在所述反饋電容模塊和所述反饋電阻模塊共同產(chǎn)生的極點(diǎn)所對應(yīng)的頻率與所述放大器的主極點(diǎn)頻率之間。
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