[外觀設(shè)計]無損探傷檢測設(shè)備（X5600）有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201630511192.2 | 申請日： | 2016-10-20 |
| 公開（公告）號： | CN304054269S | 公開（公告）日： | 2017-02-22 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 孫俊 | 申請（專利權(quán)）人： | 深圳市卓茂科技有限公司 |
| 主分類號： | 10-05 | 分類號： | 10-05 |
| 代理公司： | 深圳市中聯(lián)專利代理有限公司44274 | 代理人： | 尹懷勤 |
| 地址： | 518100 廣東省深圳市寶*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 無損 探傷 檢測 設(shè)備 x5600 | ||
【說明書】：
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