[實用新型]薄片介質的厚度檢測裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201621489564.7
• 申請日: 2016-12-30
• 公開（公告）號: CN206340087U
• 公開（公告）日: 2017-07-18
• 發(fā)明（設計）人: 魏偉;龍觀富;朱躍輝;謝愛文;李衛(wèi)
• 申請（專利權）人: 浙江維融電子科技股份有限公司
• 主分類號: G07D7/164
• 分類號: G07D7/164
• 代理公司: 北京國坤專利代理事務所(普通合伙)11491
• 代理人: 黃耀鈞

1.一種薄片介質的厚度檢測裝置，其特征在于：其結構包括主動軸(1)、主動軸除塵片(2)、浮動軸(3)、浮動軸除塵片(4)、軸承(5)、擺臂轉軸(6)、光柵位移傳感器(7)、傳感器固定板(8)、放大杠桿(9)、拉簧(10)、拉簧固定板(11)、浮動擺臂(12)、同步帶輪(13)、同步帶(14)，所述主動軸除塵片(2)設于主動軸(1)，所述浮動軸(3)設于主動軸(1)上方，所述浮動軸除塵片(4)設于浮動軸(3)表面，所述軸承(5)設于擺臂轉軸(6)兩側，所述擺臂轉軸(6)設于浮動軸除塵片(4)上方，所述光柵位移傳感器(7)與傳感器固定板(8)固定連接，所述傳感器固定板(8)與放大杠桿(9)固定連接，所述拉簧(10)與放大杠桿(9)活動連接，所述拉簧固定板(11)與拉簧(10)活動連接，所述浮動擺臂(12)設于擺臂轉軸(6)上，所述同步帶輪(13)設于主動軸(1)兩側，所述同步帶輪(13)通過同步帶(14)與電機連接。