[實(shí)用新型]電離室型雙能X射線探測器有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201621463530.0 | 申請日: | 2016-12-29 |
| 公開(公告)號: | CN206321588U | 公開(公告)日: | 2017-07-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 葛學(xué)海;白云飛;陳鵬;張立功;張廣超 | 申請(專利權(quán))人: | 開封市測控技術(shù)有限公司 |
| 主分類號: | G01N23/02 | 分類號: | G01N23/02 |
| 代理公司: | 鄭州科維專利代理有限公司41102 | 代理人: | 項(xiàng)麗麗 |
| 地址: | 475000*** | 國省代碼: | 河南;41 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電離室 型雙能 射線 探測器 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及核技術(shù)應(yīng)用領(lǐng)域的X射線探測器,尤其涉及一種應(yīng)用于物質(zhì)在線識別分選系統(tǒng)中的電離室型雙能X射線探測器。
背景技術(shù)
在物質(zhì)在線識別分選系統(tǒng)中,通常使用管理程序簡單、安全性能高,且射線強(qiáng)度和分布具有可調(diào)節(jié)性的X光機(jī)作為輻射發(fā)生裝置,與γ放射源發(fā)出的具有特征能量譜的γ射線不同,X光機(jī)發(fā)出的X射線的能量是連續(xù)的,其中既有低能譜線又有高能譜線。物質(zhì)對不同能量的X射線的衰減率上存在差異,X射線穿透被檢測物體后,其能量譜線會(huì)發(fā)生變化,低能譜線的變化和被檢測物體的材料組成和質(zhì)量厚度有關(guān),高能譜線的變化主要與質(zhì)量厚度有關(guān)。在物質(zhì)在線識別系統(tǒng)中,僅僅依據(jù)原子序數(shù)劃分的方法統(tǒng)計(jì)X射線總的衰減會(huì)無法準(zhǔn)確的判定物質(zhì)的屬性,所以可能會(huì)出現(xiàn)當(dāng)X射線穿透薄的鉛板和厚的木材總衰減程度是一樣的。因此,為了更準(zhǔn)確的分辨物質(zhì)的屬性,必須分別探測X射線透射物體后的高能射線衰減和低能射線衰減,即進(jìn)行在線雙能X射線探測。
目前常用的雙能X射線探測器是由“閃爍體”和“光電二極管”組合而成的閃爍體陣列探測器。例如,中國專利授權(quán)公告號CN101937094B所公開的雙能X射線陣列探測器,沿X射線入射方向采用第一閃爍體陣列+光電二極管陣列+濾波片形成低能射線探測器,采用第二閃爍體陣列+光電二極管+濾波片形成高能探測器實(shí)現(xiàn)高能射線探測。該類型探測器的采用密集陣列結(jié)構(gòu),像素尺寸小,像素點(diǎn)密集,主要用于輻射成像系統(tǒng),如安檢機(jī)、CT機(jī)等精密檢測輪廓外形的無損檢測設(shè)備。但是,這類探測器的主要缺點(diǎn)是:結(jié)構(gòu)復(fù)雜,閃爍體輻照壽命短、暗電流大(~1*10-10A)、對溫度極敏感、使用時(shí)需要嚴(yán)格避光,對使用環(huán)境要求比較嚴(yán)苛。在工業(yè)應(yīng)用場合為了保持探測器的識別能力,需要采用復(fù)雜的溫度補(bǔ)償技術(shù)以克服溫度效應(yīng)。在應(yīng)用于煤礦的煤與矸石識別分選系統(tǒng)中,要求雙能X射線探測器能定性識別出粒度在100~300mm的動(dòng)態(tài)物料是煤還是矸石,陣列探測裝置能達(dá)到亞厘米量級的像素尺寸就已經(jīng)與塊狀物料的尺寸相適應(yīng),而不需要特別精細(xì)的空間分辨率,但是要求X射線探測器要能夠在粉塵大、噪聲強(qiáng)、溫度變化大、工作時(shí)間長的惡劣環(huán)境中保持良好工作穩(wěn)定性和可靠性,因此,使用閃爍體與光電二極管的排列組合結(jié)構(gòu)的探測器會(huì)造成許多的困難。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的不足,而提供了一種便于制造和使用的雙能X射線探測器,利用這種雙能X射線探測器能夠測量穿透物體的X射線能譜中低能部分和高能部分的相對差別,進(jìn)行在線探測進(jìn)而提供物質(zhì)識別分選的依據(jù)。
本實(shí)用新型的目的是通過如下措施來實(shí)現(xiàn)的:一種電離室型雙能X射線探測器,包括電離室,所述的電離室內(nèi)設(shè)置有透氣金屬隔板,所述的透氣金屬隔板上設(shè)置有連通孔,所述的透氣金屬隔板將電離室分隔為第一腔體與第二腔體,所述的第一腔體與第二腔體內(nèi)均設(shè)置有電極系統(tǒng),所述的第一腔體上方密封有采用低原子序數(shù)的金屬薄窗Ⅰ,所述的第二腔體上方密封有采用高原子序數(shù)的金屬薄窗Ⅱ。
優(yōu)選的,所述的電離室為長方體的密閉容器。
優(yōu)選的,所述的金屬薄窗Ⅰ通過焊接的方式將電離室第一腔體密封,金屬薄窗Ⅱ通過焊接的方式將電離室第二腔體密封。
優(yōu)選的,所述的金屬薄窗Ⅰ的材料為鈦、鈹、鋁或含鈦、鈹、鋁的合金,所述的金屬薄窗Ⅱ的材料為鐵、銅、銀、金或含鐵、銅、銀、金的合金。
優(yōu)選的,所述的電極系統(tǒng)由相互交替排列的高壓極片和收集極片組成,形成陣列組合。
本實(shí)用新型的有益效果是:本實(shí)用新型利用透氣金屬隔板將電離室探測器分為兩個(gè)具有同等探測效率的探測單元,利用不同原子序數(shù)的入射窗口形成低能射線探測區(qū)和高能射線探測器,結(jié)構(gòu)簡單,方便制造和使用,具有暗電流小、穩(wěn)定、可靠、對溫度不敏感、環(huán)境適應(yīng)好的特點(diǎn)。
附圖說明
圖1為電離室型雙能X射線探測器的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖2為電離室型雙能X射線探測器的內(nèi)部電極系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖。
圖3為透氣金屬隔板的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖4為電離室型雙能X射線探測器的使用狀態(tài)圖。
圖中:1-電離室,2-透氣金屬隔板,3-第一腔體,4-第二腔體,5-金屬薄窗Ⅰ,6-金屬薄窗Ⅱ,7-高壓極片,8-收集極片,9-分選皮帶,10物塊,11-X光機(jī),12-X射線。
具體實(shí)施方式
為了加深對本實(shí)用新型的理解,下面將結(jié)合實(shí)施例和附圖對本實(shí)用新型作進(jìn)一步詳述。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于開封市測控技術(shù)有限公司,未經(jīng)開封市測控技術(shù)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201621463530.0/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:用于斷路器的控制單元及其控制方法
- 下一篇:一種X光無損透視檢測儀





