[實用新型]晶振片檢測機電極檢測機構

有效

• 申請號: 201621454093.6
• 申請日: 2016-12-28
• 公開（公告）號: CN206321727U
• 公開（公告）日: 2017-07-11
• 發明（設計）人: 陳愿勤;蔡婷;李永芳;謝曦;陳怡君;羅文靜
• 申請（專利權）人: 中山泰維電子有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 中山市銘洋專利商標事務所(普通合伙)44286
• 代理人: 馮漢橋

技術領域

本實用新型涉及一種晶振片檢測機，特別是一種晶振片檢測機電極檢測機構。

背景技術

晶振片主要應用在膜厚控制儀器領域，薄薄圓圓的晶振片來源于多面體石英棒，先被切成六面體棒，再經過反復的切割和研磨，石英棒最終被做成一堆薄薄的石英片，每個石英片經切邊、拋光和清洗，最后鍍上金屬電極成為晶振片，適用于不同應力膜料的鍍膜控制。

目前的加工工藝不能保證所有的晶振片都是合格的，因而難免會出現少部分有瑕疵的晶振片，為了將這些有瑕疵的晶振片挑出就必須通過檢測，以前都是通過人工將晶振片取出然后放入一個帶圓形槽的銅座中固定，銅座中具有三個凸起的觸點，觸點與晶振片接觸，且該觸點與導體檢測設備連接，檢測設備加載檢測電流于晶振片上，然后通過收集加載了檢測電流的晶振片上所產生的負載阻抗及電容等各項參數與預定的參數進行對比，從而判定晶振片是否合格。上述過程比較耗費時間，因而單位時間檢測的晶振片數量少；而且在檢測拿取過程中，容易造成晶振片劃傷而導致晶振片無法使用。

綜上所述，以前的檢測工藝耗費了大量人力及時間，也相應大大增加了企業的成本。因而有必要設計一款能夠自動檢測晶振片的晶振片檢測機來解決上述問題，而本申請是針對晶振片檢測機電極檢測機構提出，從而在晶振片的檢測步驟中實現自動化。

發明內容

為了克服現有技術的不足，本實用新型提供一種晶振片檢測機電極檢測機構。

本實用新型解決其技術問題所采用的技術方案是：

晶振片檢測機電極檢測機構，其特征在于：包括設置于機臺上的電機座，電機座上設有軸孔及安裝有驅動電機，所述驅動電機的電機軸一端穿過軸孔與位于軸孔另一側的偏心塊偏心連接，該偏心塊上偏心設有偏心軸，所述電機座上還設有通過滑動機構與電機座連接的升降滑板，該升降滑板上設有導孔，所述偏心軸的一端位于導孔中，且升降滑板上設有電路板，電路板上設有探測晶振片的檢測針及連接有導線，且檢測針通過導線與檢測設備電連接，所述驅動電機通過驅動偏心塊轉動而帶動偏心軸轉動，而偏心軸通過與導孔的配合而帶動升降滑板升降，從而帶動電路板及檢測針升降。

所述電機座及升降滑板間設有拉簧，該拉簧的一端與電機座固定，且拉簧的另一端與升降滑板固定。

所述滑動機構包括安裝于電機座上的導軌及設置于升降滑板上的滑槽，所述滑槽與導軌滑動配合。

所述導孔為長條形孔。

所述偏心軸的端部安裝有滾輪。

本實用新型的有益效果是：本實用新型通過驅動電機帶動偏心塊及偏心軸轉動, 偏心軸在轉動時會帶動升降滑板移動,且通過偏心軸與升降滑板上的導孔的配合能夠使偏心軸的旋轉運動分解為升降滑板的升降運動,從而實現在有晶振片的時候升降滑板能夠帶動電路板及檢測針下降檢測，同時并通過導線將數據傳送于檢測設備；而檢測完成后驅動電機反轉,從而帶動電路板及檢測針上升復位,上述不僅能夠自動完成晶振片的檢測步驟，而且結構簡單可靠、易加工裝配及維護、并且成本低廉,避免了采用一些復雜精密的傳動結構所帶來的裝配工藝高及成本高的缺點。

附圖說明

下面結合附圖和實施例對本實用新型進一步說明。

圖1是本實用新型的剖面示意圖。

具體實施方式

參照圖1，本實用新型公開了一種晶振片檢測機電極檢測機構，包括設置于機臺1上的電機座，電機座3上有安裝板，安裝板上設有軸孔，且安裝板的一側固定安裝有驅動電機2，驅動電機2的電機軸4一端穿過軸孔與位于軸孔另一側的矩形偏心塊5偏心連接，該偏心塊5上偏心設有偏心軸6，所述電機座3上還設有通過滑動機構與電機座3連接的升降滑板7，該升降滑板7上設有導孔，該導孔為一長條形孔，所述偏心軸6的一端位于導孔中，且升降滑板7上設有電路板8，電路板8上設有探測晶振片的兩根檢測針9及連接有導線，且檢測針9通過導線與檢測設備電連接，所述驅動電機2通過驅動偏心塊5轉動而帶動偏心軸6轉動，而偏心軸6通過與導孔的配合而帶動升降滑板7升降，從而帶動電路板8及檢測針9升降。

滑動機構的具體結構在于：滑動機構包括安裝于電機座3上的導軌及設置于升降滑板7上的滑槽，所述滑槽與導軌滑動配合，當然上述只是一種具體結構，滑動機構還可以是直線導軌與滑塊。

作為本結構的優選，偏心軸6的端部安裝有滾輪，該滾輪也可為一軸承，這樣在偏心軸6轉動時為滾動摩擦而不會與導孔內壁產生滑動摩擦，從而避免兩者間有大的磨損，從而延長了部件的使用壽命。