[實(shí)用新型]一種輔助定位工具有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201621199138.X | 申請(qǐng)日: | 2016-11-07 |
| 公開(公告)號(hào): | CN206558487U | 公開(公告)日: | 2017-10-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王艷濤 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 武漢新芯集成電路制造有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/68 | 分類號(hào): | H01L21/68;H01L21/683 |
| 代理公司: | 上海申新律師事務(wù)所31272 | 代理人: | 俞滌炯 |
| 地址: | 430205 湖北*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 輔助 定位 工具 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及半導(dǎo)體制造技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種輔助定位工具。
背景技術(shù)
半導(dǎo)體生產(chǎn)工藝中,很多環(huán)節(jié)需要使用卡盤(Chuck)來裝載晶元 (Wafer),在晶元被裝載到卡盤上之前,需要先由4個(gè)升降臺(tái)對(duì)晶元的中心進(jìn)行粗定位,由于粗定位的精度需在±1mm以內(nèi),因此4個(gè)升降臺(tái)的水平和垂直位置都需要調(diào)整,現(xiàn)有工具無法同時(shí)測(cè)量水平和垂直距離,并且由于升降平臺(tái)的結(jié)構(gòu),現(xiàn)有工具也無法準(zhǔn)確的測(cè)量其距離,當(dāng)前調(diào)整升降平臺(tái)位置時(shí)依靠人眼調(diào)整,完全憑個(gè)人經(jīng)驗(yàn),沒有一個(gè)明確的標(biāo)準(zhǔn),需反復(fù)多次調(diào)整,花費(fèi)很多時(shí)間。
實(shí)用新型內(nèi)容
針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中存在的問題,本實(shí)用新型提供了一種能快速準(zhǔn)確地對(duì)晶元進(jìn)行定位,以便快速確定晶元的中心位置以及快速調(diào)整用于固定晶元的升降臺(tái)的位置的輔助定位工具。
本實(shí)用新型采用如下技術(shù)方案:
一種輔助定位工具,適用于晶元升降裝置,所述晶元升降裝置包括卡盤及環(huán)繞所述卡盤設(shè)置的至少一個(gè)升降臺(tái);所述輔助定位工具包括:
定位主體,所述定位主體為具有一預(yù)定厚度的板件;
所述定位主體上設(shè)有與所述升降臺(tái)的形狀相配合的第一側(cè)面;
所述定位主體上沿所述第一側(cè)面還設(shè)有與所述定位主體寬度相同的凸起,所述凸起對(duì)應(yīng)所述卡盤的方向設(shè)置有配合所述卡盤側(cè)面形狀的第二側(cè)面。
優(yōu)選的,所述卡盤包括:
上表面,成圓形;
下表面,成圓形,所述下表面與所述上表面平行;
柱面,所述柱面連接所述上表面和所述下表面。
優(yōu)選的,所述升降臺(tái)包括具有一預(yù)定彎曲半徑的夾緊部,所述第一側(cè)面為具有所述預(yù)定彎曲半徑的弧面。
優(yōu)選的,所述夾緊部包括上夾緊塊和下夾緊塊,所述上夾緊塊與所述下夾緊塊連接并形成預(yù)定夾角,所述預(yù)定彎曲半徑對(duì)應(yīng)所述上夾緊塊與所述下夾緊塊的連接處。
優(yōu)選的,所述預(yù)定夾角大于90度。
優(yōu)選的,所述預(yù)定彎曲半徑為150mm。
優(yōu)選的,所述第二側(cè)面為圓弧面,所述圓弧面的彎曲半徑為 145mm。
優(yōu)選的,所述凸起的高度為2mm。
優(yōu)選的,所述預(yù)定厚度為8mm。
優(yōu)選的,所述定位主體的寬度為30mm。
優(yōu)選的,所述定位主體的最大長度為35mm。
優(yōu)選的,所述凸起的最大長度為5mm。
本實(shí)用新型的有益效果:能夠快速準(zhǔn)確對(duì)升降臺(tái)進(jìn)行定位。
附圖說明
圖1為本實(shí)用新型的一種優(yōu)選實(shí)施例中,輔助定位工具的正視圖;
圖2為本實(shí)用新型的一種優(yōu)選實(shí)施例中,輔助定位工具的俯視圖;
圖3為本實(shí)用新型的一種優(yōu)選實(shí)施例中,輔助定位工具的使用示意圖;
圖4為本實(shí)用新型的一種優(yōu)選的實(shí)施例中,卡盤和夾緊塊的示意圖。
具體實(shí)施方式
需要說明的是,在不沖突的情況下,下述技術(shù)方案,技術(shù)特征之間可以相互組合。
下面結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型的具體實(shí)施方式作進(jìn)一步的說明:
如圖1-3所示,本實(shí)用新型公開了一種輔助定位工具,適用于晶元升降裝置,上述晶元升降裝置包括卡盤1及環(huán)繞上述卡盤1設(shè)置的至少一個(gè)升降臺(tái)2;上述輔助定位工具包括:
定位主體3,上述定位主體3為具有一預(yù)定厚度的板件;
上述定位主體3上設(shè)有與上述升降臺(tái)2的形狀相配合的第一側(cè)面 5;
上述定位主體3上沿上述第一側(cè)面5還設(shè)有與上述定位主體3寬度相同的凸起4,上述凸起4對(duì)應(yīng)上述卡盤1的方向設(shè)置有配合上述卡盤1側(cè)面形狀的第二側(cè)面6。
在本實(shí)施例中,將定位主體3以凸起4向下的形式放置在卡盤1 上,定位主體3的第二側(cè)面6與卡盤1的側(cè)面形狀配合,調(diào)整升降臺(tái) 2的位置使升降臺(tái)2與卡盤1接觸,定位主體3的第一側(cè)面5與升降臺(tái)2的形狀相配合,從而以凸起4的長度來確定卡盤1與升降臺(tái)2之間的水平距離,以凸起4的凸起高度,來確定卡盤1與升降臺(tái)2之間的垂直距離,快速準(zhǔn)確地對(duì)升降臺(tái)2進(jìn)行定位,定位升降臺(tái)2時(shí),可通過松開升降臺(tái)2的水平固定螺栓及垂直固定螺栓,調(diào)整水平位置及垂直位置后,再旋緊水平固定螺栓及垂直固定螺栓的方式來進(jìn)行。
作為優(yōu)選的實(shí)施方式,可根據(jù)晶元及卡盤1的尺寸來調(diào)整凸起4 的長度以及厚度。
較佳的實(shí)施例中,上述卡盤1包括:
上表面7,成圓形;
下表面8,成圓形,上述下表面8與上述上表面7平行;
柱面9,上述柱面9連接上述上表面7和上述下表面8。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





