[實用新型]一種指紋傳感器基板的幾何參數檢測系統

有效

• 申請號: 201621195112.8
• 申請日: 2016-11-07
• 公開（公告）號: CN206347968U
• 公開（公告）日: 2017-07-21
• 發明（設計）人: 曹偉兵;朱洪偉
• 申請（專利權）人: 上海柏凌電子科技有限公司
• 主分類號: G01B11/06
• 分類號: G01B11/06;G01B11/16
• 代理公司: 上海愉騰專利代理事務所(普通合伙)31306
• 代理人: 游富英

技術領域

本實用新型涉及幾何參數檢測技術，尤其涉及一種用于測試手機指紋傳感器基板的幾何參數的指紋傳感器基板的幾何參數檢測系統。

背景技術

目前越來越多的智能手機都配有指紋傳感器，指紋傳感器的核心部件是指紋傳感器基板，指紋傳感器基板一般由藍寶石或陶瓷薄片切割而成。因為切割后的傳感器基板尺寸很小，很難用常規的無接觸式測試設備對其幾何參數進行測試，因此切割好后的指紋傳感器基板的幾何參數基本不測。但是在最終制造成手機指紋傳感器后我們發現傳感器基板幾何參數中的厚度、總厚度偏差、翹曲度會影響指紋傳感器的靈敏度，所以為控制產品最終良品率減少生產成本在切割成小塊傳感器基板后需要對這些基板進行幾何參數的測量，目前一般是用千分表來測量這些切割好后小塊基板的幾何參數，其測量數據的準確性和重復性都比較差，測量效率也很低，因此目前市場上急需要有一種無接觸處的高效準確的檢測設備來填補這一市場空白。

實用新型內容

本實用新型要解決的技術問題是：提供一種幾何參數測試系統，以解決很難用常規的無接觸式測試設備對手機指紋傳感器基板的幾何參數進行測試的問題。

為了實現上述目的，本實用新型提供的技術方案是：一種指紋傳感器基板的幾何參數檢測系統，用于測試指紋傳感器基板的幾何參數，包括測量環、測量盤、測試基準平臺、第一激光位移傳感器、第二激光位移傳感器、探頭固定架和計算機，所述測量環水平設置在測試基準平臺上且測量環的上端面設有支撐組件，所述測量盤通過支撐組件水平放置在測量環上，所述測量盤上開有用于放置指紋傳感器基板的測量槽，所述探頭固定架固定在測試基準平臺上，所述探頭固定架具有上支撐臂和下支撐臂，所述第一激光位移傳感器設置在上支撐臂的延伸端，所述第二激光位移傳感器設置在下支撐臂的延伸端，所述第一激光位移傳感器和第二激光位移傳感器的信號輸出端與計算機的通訊接口連接，在測量時，所述測量盤位于第一激光位移傳感器和第二激光位移傳感器之間，且第一激光位移傳感器和第二激光位移傳感器的激光器上下對準測量盤上的指紋傳感器基板。

進一步地，所述測試基準平臺開有讓位槽孔，所述下支撐臂設置在讓位槽孔中且第二激光位移傳感器位于測試基準平臺的基準面之下。

進一步地，所述支撐組件由三個支撐釘組成，所述三個支撐釘與測量環螺紋孔連接且沿著測量環上端面均勻分布。

進一步地，所述支撐釘由半球狀頭部和螺紋柱部組成。

與現有技術相比，本實用新型的有益效果是：通過激光位移傳感器采集相關參數，并由計算機計算幾何參數，從而實現無接觸式測量指紋傳感器基板幾何參數(厚度、厚度偏差、和翹曲度)，操作簡單、測試效率高和高性價比等優勢。

附圖說明

圖1本實用新型的結構示意圖。

圖中，1、測量環 2、測量盤 3、測試基準平臺 4、第一激光位移傳感器 5、讓位槽孔 6、探頭固定架 7、支撐組件。

具體實施方式

結合附圖，對本實用新型的具體實施方式進行說明，以使更充分的理解本實用新型的創造點所在。

如圖1所示，一種指紋傳感器基板的幾何參數檢測系統，用于測試指紋傳感器基板的幾何參數，包括測量環1、測量盤2、測試基準平臺3、第一激光位移傳感器4、第二激光位移傳感器5、探頭固定架6和計算機，所述測量環1水平設置在測試基準平臺3上且測量環1的上端面設有支撐組件8，所述測量盤2通過支撐組件7水平放置在測量環1上，所述測量盤2上開有用于放置指紋傳感器基板的測量槽，所述探頭固定架6固定在測試基準平臺3上，所述探頭固定架6 具有上支撐臂和下支撐臂，所述第一激光位移傳感器4設置在上支撐臂的延伸端，所述第二激光位移傳感器設置在下支撐臂的延伸端，所述第一激光位移傳感器4和第二激光位移傳感器的信號輸出端與計算機的通訊接口連接，在測量時，所述測量盤2位于第一激光位移傳感器4和第二激光位移傳感器之間，且第一激光位移傳感器4和第二激光位移傳感器的激光器上下對準測量盤上的指紋傳感器基板，其中，激光位移傳感器為現有技術，它由激光器、激光檢測器和測量電路組成，可以直接輸出數字信號給計算機。

優選地，所述支撐組件7由三個支撐釘組成，所述三個支撐釘與測量環螺紋孔連接且沿著測量環上端面均勻分布，優選地，所述支撐釘由半球狀頭部和螺紋柱部組成。