[實(shí)用新型]一種熱紅外高光譜成像儀盲元檢測(cè)裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201621121391.3 | 申請(qǐng)日: | 2016-10-14 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN206146624U | 公開(kāi)(公告)日: | 2017-05-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張長(zhǎng)興;謝鋒;劉成玉;邵紅蘭;劉智慧;楊貴 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院上海技術(shù)物理研究所 |
| 主分類號(hào): | G01M11/00 | 分類號(hào): | G01M11/00 |
| 代理公司: | 上海新天專利代理有限公司31213 | 代理人: | 郭英 |
| 地址: | 200083 *** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 紅外 光譜 成像 儀盲元 檢測(cè) 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本專利屬于遙感探測(cè)與成像光譜儀定標(biāo)領(lǐng)域,特別涉及一種熱紅外高光譜成像儀盲元檢測(cè)的裝置。
背景技術(shù)
由于紅外探測(cè)元器件鑄造工藝或環(huán)境變化原因,熱紅外高光譜圖像會(huì)普遍存在盲元,盲元的存在對(duì)線陣推掃的熱紅外高光譜成像儀圖像質(zhì)量造成嚴(yán)重影響,對(duì)輻射定標(biāo)精度也會(huì)造成影響。因此在圖像輻射校正前盲元檢測(cè)是必要環(huán)節(jié),盲元的檢測(cè)好壞直接影響圖像后續(xù)的數(shù)據(jù)處理和圖像質(zhì)量評(píng)價(jià)。
目前盲元檢測(cè)的方法包括基于實(shí)驗(yàn)室定標(biāo)法和基于場(chǎng)景的方法,這些檢測(cè)方法多針對(duì)單波段的面陣紅外圖像進(jìn)行檢測(cè)處理,多為基于圖像空間維度的檢測(cè),熱紅外高光譜成像儀是目前高光譜成像研究的前沿載荷,在同一個(gè)紅外焦平面實(shí)現(xiàn)幾百個(gè)波段成像,盲元的存在對(duì)這成像方式圖像質(zhì)量造成嚴(yán)重影響,基于整圖的檢測(cè)和數(shù)據(jù)處理并不一定適用。因此,還需要研究針對(duì)熱紅外光譜成像儀盲元檢測(cè)的特定裝置。
發(fā)明內(nèi)容
本專利所要解決的問(wèn)題是:提供一種適用于熱紅外高光譜成像儀盲元檢測(cè)的裝置,裝置從光譜維角度進(jìn)行檢測(cè),解決了目前熱紅外高光譜成像儀盲元檢測(cè)的難題。
一種熱紅外高光譜成像儀盲元檢測(cè)裝置,所述的盲元檢測(cè)裝置包括黑體控制器1、標(biāo)準(zhǔn)黑體2、熱紅外高光譜成像儀3和計(jì)算機(jī)模塊4,黑體控制器1與標(biāo)準(zhǔn)黑體2連接,計(jì)算機(jī)模塊4與熱紅外高光譜成像儀3連接,熱紅外高光譜成像儀視場(chǎng)對(duì)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)黑體并充滿視場(chǎng);
黑體控制器1設(shè)定標(biāo)準(zhǔn)黑體溫度,標(biāo)準(zhǔn)黑體2發(fā)出熱紅外輻射,熱紅外輻射平行光充滿熱紅外光譜成像儀3視場(chǎng),熱紅外光譜成像儀3接收黑體輻射,計(jì)算機(jī)模塊4控制成像儀進(jìn)行數(shù)據(jù)采集,獲得8-12.5μm熱紅外波段各個(gè)波段的熱紅外輻射數(shù)據(jù),改變標(biāo)準(zhǔn)黑體(2)的溫度,如此往復(fù),獲取不同溫度下的8-12.5μm熱紅外輻射數(shù)據(jù),由不同溫度數(shù)據(jù)生成溫升黑體熱紅外高光譜數(shù)據(jù),生成盲元圖像,完成盲元檢測(cè)。
通過(guò)以上裝置,本專利可以實(shí)現(xiàn)熱紅外高光譜成像儀盲元的高精度檢測(cè),從光譜維角度出發(fā)的檢測(cè)裝置可以有效避免常規(guī)方法漏檢和虛檢的不足,可大幅度提高了盲元檢測(cè)精度。
附圖說(shuō)明
圖1是熱紅外高光譜成像儀盲元檢測(cè)的裝置示意圖,圖中裝置包括黑體控制器1、標(biāo)準(zhǔn)黑體2、熱紅外高光譜成像儀3和計(jì)算機(jī)模塊4。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖對(duì)本專利做進(jìn)一步描述。
圖1描述了一種適用于熱紅外高光譜成像儀盲元檢測(cè)的裝置的組成結(jié)構(gòu)圖,按照?qǐng)D示將黑體控制器1、標(biāo)準(zhǔn)黑體2、熱紅外光譜成像儀3和計(jì)算機(jī)模塊4進(jìn)行組裝;用計(jì)算機(jī)模塊4控制熱紅外光譜成像儀,開(kāi)啟熱紅外光譜成像儀3,用黑體控制器1控制開(kāi)啟M345X標(biāo)準(zhǔn)黑體2,設(shè)置初始溫度為-10℃,待溫度穩(wěn)定后計(jì)算機(jī)模塊控制熱紅外高光譜成像儀采集存儲(chǔ)獲取8-12.5μm一組熱紅外輻射數(shù)據(jù),數(shù)據(jù)采集行數(shù)為300行;
通過(guò)黑體控制器設(shè)置調(diào)節(jié)溫度,升高溫度大小為2℃,待溫度穩(wěn)定后計(jì)算機(jī)模塊控制熱紅外高光譜成像儀采集存儲(chǔ)新的一組數(shù)據(jù),如此重復(fù)49次,成像光譜儀共獲取50個(gè)不同的溫度下的黑體輻射數(shù)據(jù),溫度范圍為0-98℃,2℃間隔,將采集獲取的50組數(shù)據(jù)按照溫升進(jìn)行波段疊加,獲取溫升黑體熱紅外高光譜數(shù)據(jù),生成盲元圖像,完成盲元檢測(cè)。
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