[實用新型]一種PCB微鉆檢查用輔助裝置有效
| 申請號： | 201621119261.6 | 申請日： | 2016-10-13 |
| 公開（公告）號： | CN206281775U | 公開（公告）日： | 2017-06-27 |
| 發明（設計）人： | 王俊鋒;王雪峰;王曉峰 | 申請（專利權）人： | 新野鼎泰高科精工科技有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/29 | 分類號： | G01N21/29 |
| 代理公司： | 鄭州紅元帥專利代理事務所(普通合伙)41117 | 代理人： | 秦舜生 |
| 地址： | 473500 河*** | 國省代碼： | 河南;41 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 pcb 檢查 輔助 裝置 | ||
【權利要求書】：
1.一種PCB微鉆檢查用輔助裝置，其特征在于：包括基座和鉸接于所述基座頂部的檢測機構，所述基座底部分別設有定位螺釘、沉孔及用于擺放鉆針的料盤，所述定位螺釘僅設于所述基座一側，所述料盤一側邊與所述定位螺釘相接觸，且所述料盤四周鉆孔與所述沉孔相匹配，所述檢測結構為框狀，且所述檢測機構表面設有多個卡槽，所述卡槽上放置有薄鋁/銅片；工作時，所述薄鋁/銅片對鉆針刃部形成光線反差，所述檢測機構通過光線反差的不同來判斷鉆針的優劣。
2.根據權利要求1所述的PCB微鉆檢查用輔助裝置，其特征在于：所述基座和所述檢測機構均采用鋁合金制作。
3.根據權利要求1所述的PCB微鉆檢查用輔助裝置，其特征在于：所述料盤與所述沉孔間加設緊固件固定在所述基座上。
4.根據權利要求1所述的PCB微鉆檢查用輔助裝置，其特征在于：所述基座頂部設有轉軸，所述檢測機構通過所述轉軸和所述基座鉸接在一起。
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