[實用新型]一種液晶面板測試裝置

有效

• 申請號: 201621109892.X
• 申請日: 2016-10-10
• 公開（公告）號: CN206224086U
• 公開（公告）日: 2017-06-06
• 發明（設計）人: 張忠松;呂建奇
• 申請（專利權）人: 昆山龍騰光電有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13
• 代理公司: 北京成創同維知識產權代理有限公司11449
• 代理人: 蔡純,張靖琳

技術領域

本實用新型涉及產品測試領域，特別涉及一種液晶面板測試裝置。

背景技術

液晶面板是由大量的像素點所組成的，它們都能夠顯示黑白兩色和紅、黃、藍三原色。再由顯示著不同顏色的像素點進行組合，我們便可以看到液晶面板所顯示的圖像。一個像素點即是一個發光點。每個發光點都有獨立的晶體管來控制其電流的強弱，如果控制該點的晶體管壞掉，就會造成該光點永遠點亮或不亮。這就是通常提到的亮點或暗點，統稱為“壞點”或“不良點”。這些液晶面板在生產過程中需要經過點燈測試工序來測試液晶面板上不良點的坐標，即亮點或暗點等缺陷點的坐標，隨后再對這些不良點進行修復。

點燈測試方式主要有Full Pin，Quick以及S/B方式。Quick和S/B點燈測試方式一般會將所有的數據信號(Data)端子相互連接形成一個Data信號接收端，對于掃描信號(Gate)，則將奇數行的Gate信號端子相互連接形成第一Gate信號接收端，將偶數行的Gate信號端子相互連接形成第二Gate信號接收端，這種測試方式成本低，測試治具容易制作。

然而，如圖1所示，目前使用Full Pin點燈方式可以進行不良點點坐標的標記，Quick和S/B方式無法實現點坐標的標記。但是，使用Full Pin點燈方式進行不良點點坐標的標記需要高精度的探針壓頭(Block)，存在點燈成本高的問題。

因此，需要一種利用Quick或S/B點燈方式進行不良點點坐標標記以降低點標記成本的方法。

實用新型內容

為此，本實用新型實施例提供一種使用參考面板獲得點缺陷坐標信息的液晶面板測試裝置，以降低點燈測試成本。

根據本實用新型，提供一種液晶面板測試裝置，用于對待測液晶面板進行點燈測試，其特征在于，包括：LED燈箱，用于提供背光；參考面板，用于提供坐標信息；第一信號發生器，與參考面板相連接，用于在測試時驅動參考面板；第二信號發生器，與待測液晶面板相連接，用于在測試時驅動待測液晶面板；以及文件服務器，與第一信號發生器相連接，用于記錄待測液晶面板的缺陷坐標信息。

優選地，所述參考面板包括對齊標記，所述液晶面板測試裝置還包括：圖像定位設備，用于對參考面板上的對齊標記進行抓取對齊，使得待測液晶面板與參考面板在測試時重合對齊。

優選地，所述圖像定位設備為CCD圖像傳感器。

優選地，所述對齊標記為十字標記。

優選地，所述參考面板設置在待測液晶面板上方或下方。

優選地，所述參考面板的尺寸等于所述待測液晶面板的尺寸。

優選地，所述參考面板的點分辨率等于所述待測液晶面板的點分辨率。

優選地，所述參考面板與待測液晶面板間隔5～10um。

優選地，所述參考面板為FOG面板。

優選地，所述LED燈箱的亮度大于等于50,000cd/m²。

本實用新型實施例利用參考面板(例如，FOG面板)可標記點坐標，將參考面板與待測液晶面板重合對齊，利用參考面板的點坐標標記能力對待測液晶面板實施標記，從而提供一種使用Quick或S/B點燈方式實現對不良點點坐標進行的方法和系統，達到降低點燈成本的目的。

附圖說明

圖1為描述現有技術中的點坐標標記方法表格示意圖；

圖2為描述常規的點坐標傳送流程圖；

圖3為根據本實用新型實施例的液晶面板測試裝置流程圖；

圖4為根據本實用新型實施例的一種點燈測試中的液晶面板測試裝置示意圖；以及

圖5和6為根據本實用新型實施例的參考面板與待測液晶面板的對齊方式示意圖。

具體實施方式

下面結合附圖，對本實用新型實施例提供的實現點燈測試中的點標記方法、系統等進行詳細描述。對于本領域普通技術人員而言，本實用新型可以以多種不同形式來體現，不應被解釋為受限于這里所提及的具體實施例和特定細節。全文中同樣的標號指代同樣的元件。

圖2描述了常規的點坐標傳送流程圖。通常，整個液晶面板(或稱Cell)以取向劑涂布(PI)、摩擦取向(RUB)、液晶注入(ODF)、切割(CUT)、偏光板貼附(POL)、點燈測試(LOT)的順序進行生產。在生產液晶面板時，首先將陣列基板與彩膜基板經過配向，注入液晶，對齊壓合，切割裂片制程后，貼附偏光片,再進行點燈測試。