[實(shí)用新型]一種測(cè)試輔助設(shè)備、自動(dòng)測(cè)試裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201621103603.5
• 申請(qǐng)日: 2016-09-30
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN206132930U
• 公開(kāi)（公告）日: 2017-04-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 孫廣文;趙鐵帥;孟祥忙
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 達(dá)豐（上海）電腦有限公司;達(dá)功（上海）電腦有限公司;達(dá)人（上海）電腦有限公司;達(dá)利（上海）電腦有限公司;達(dá)群（上海）電腦有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G01R31/28
• 分類(lèi)號(hào): G01R31/28
• 代理公司: 上海光華專(zhuān)利事務(wù)所31219
• 代理人: 徐秋平

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型屬于電路板制造領(lǐng)域，涉及一種輔助設(shè)備，特別是涉及一種測(cè)試輔助設(shè)備、自動(dòng)測(cè)試方法及裝置。

背景技術(shù)

集成電路(IntegratedCircuit，IC)是一種微型電子器件，通過(guò)采用一定的工藝，把一個(gè)電路中所需要的晶體管、二極管、電阻、電容和電感等元件及布線互連在一起，制作在一小塊或幾小塊半導(dǎo)體晶片或介質(zhì)基片上，然后封裝在一個(gè)管殼內(nèi)，成為具有所需電路功能的微型結(jié)構(gòu)。對(duì)電子產(chǎn)品進(jìn)行電路參數(shù)測(cè)試時(shí)，一般是對(duì)電子產(chǎn)品的集成電路進(jìn)行電路參數(shù)測(cè)試。對(duì)集成電路進(jìn)行電路參數(shù)測(cè)試時(shí)，需要將集成電路的各個(gè)功能引腳通過(guò)集成電路轉(zhuǎn)接板連接到測(cè)試裝置。而數(shù)字萬(wàn)用表就是進(jìn)行電路測(cè)試時(shí)不可或缺的工具。用數(shù)字萬(wàn)用表測(cè)試時(shí)，需反復(fù)手動(dòng)選擇數(shù)字表的檔位和移動(dòng)紅黑表棒至需要測(cè)試的測(cè)試點(diǎn)。當(dāng)技術(shù)原因需連續(xù)快速測(cè)試時(shí)，手動(dòng)作業(yè)就難以完成。例如，當(dāng)需要對(duì)電路板上的一些電路參數(shù)進(jìn)行測(cè)試時(shí)，要用數(shù)字表一個(gè)一個(gè)參數(shù)進(jìn)行測(cè)試。需反復(fù)調(diào)整數(shù)字表的檔位和表棒位置，并目視讀取記錄。換一片電路板時(shí)，再重復(fù)上述過(guò)程。操作繁瑣，且容易出錯(cuò)，且對(duì)于有時(shí)間限制的參數(shù)測(cè)試需設(shè)計(jì)輔助電路。

因此，如何提供一種測(cè)試輔助設(shè)備、自動(dòng)測(cè)試裝置，以解決現(xiàn)有技術(shù)在對(duì)集成電路板進(jìn)行連續(xù)快速的電路參數(shù)測(cè)試時(shí)，手動(dòng)作業(yè)難以完成、操作繁瑣，容易出錯(cuò)等缺陷，實(shí)已成為本領(lǐng)域從業(yè)者亟待解決的技術(shù)問(wèn)題。

實(shí)用新型內(nèi)容

鑒于以上所述現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn)，本實(shí)用新型的目的在于提供一種測(cè)試輔助設(shè)備、自動(dòng)測(cè)試裝置，用于解決現(xiàn)有技術(shù)中在對(duì)集成電路板進(jìn)行連續(xù)快速的電路參數(shù)測(cè)試時(shí)，手動(dòng)作業(yè)難以完成、操作繁瑣，容易出錯(cuò)的問(wèn)題。

為實(shí)現(xiàn)上述目的及其他相關(guān)目的，本實(shí)用新型一方面提供一種測(cè)試輔助設(shè)備，與待測(cè)電路連接，所述測(cè)試輔助設(shè)備包括：中心控制板，用于接收源于一處理器輸出的測(cè)試指令，并解讀該測(cè)試指令將其下發(fā)；所述測(cè)試指令中包括所述處理器已選擇的需測(cè)試的電路參數(shù)及所述處理器已設(shè)置的指令傳輸路徑；至少一組多卡槽轉(zhuǎn)接板，與所述中心控制板連接，用于中轉(zhuǎn)所述測(cè)試指令；至少一組可插入式受控開(kāi)關(guān)組板，分別插入所述多卡槽轉(zhuǎn)接板和所述待測(cè)電路上至少一測(cè)試電路點(diǎn)上，以接入所述測(cè)試指令，啟動(dòng)所述測(cè)試輔助設(shè)備，測(cè)試所述測(cè)試電路點(diǎn)的電路參數(shù)。

于本實(shí)用新型的一實(shí)施例中，所述中心控制板與所述處理器之間通過(guò)串行接口連接。

于本實(shí)用新型的一實(shí)施例中所述中心控制板采用單片機(jī)芯片。

于本實(shí)用新型的一實(shí)施例中，所述多卡槽轉(zhuǎn)接板包括：兩線式串行總線中轉(zhuǎn)芯片，用于將所述測(cè)試指令中轉(zhuǎn)成測(cè)試指令數(shù)據(jù)信號(hào)和時(shí)序信號(hào)，并將其放大；多個(gè)卡槽，集成在所述兩線式串行總線中轉(zhuǎn)芯片上，用于傳輸中轉(zhuǎn)后的測(cè)試指令數(shù)據(jù)信號(hào)和時(shí)序信號(hào)。

于本實(shí)用新型的一實(shí)施例中所述可插入式受控開(kāi)關(guān)組板包括：兩線式串行總線端口擴(kuò)展芯片，以兩線式串行接口方式插入在多卡槽轉(zhuǎn)接板上，用于接收所述中轉(zhuǎn)后的測(cè)試指令數(shù)據(jù)信號(hào)和時(shí)序信號(hào)；繼電器組，與兩線式串行總線端口擴(kuò)展芯片連接，用于根據(jù)所述測(cè)試指令數(shù)據(jù)信號(hào)、時(shí)序信號(hào)、和指令傳輸路徑推動(dòng)對(duì)應(yīng)的繼電器中電子開(kāi)關(guān)動(dòng)作，以插入測(cè)試電路點(diǎn)。

于本實(shí)用新型的一實(shí)施例中，所述可插入式受控開(kāi)關(guān)組板的數(shù)量由所述待測(cè)電路上的測(cè)試電路點(diǎn)的數(shù)量確定；且所述可插入式受控開(kāi)關(guān)組板上設(shè)置有若干個(gè)兩線式串行總線端口。

本實(shí)用新型另一方面提供一種自動(dòng)測(cè)試裝置，應(yīng)用于待測(cè)電路，所述待測(cè)電路上具有若干測(cè)試電路點(diǎn)，所述自動(dòng)測(cè)試裝置包括：測(cè)試器，用于測(cè)試所述待測(cè)電路上測(cè)試電路點(diǎn)的電路參數(shù)；處理器，與所述測(cè)試器連接，用于輸出測(cè)試指令；及與所述處理器連接的，所述的測(cè)試輔助設(shè)備；當(dāng)所述測(cè)試輔助設(shè)備啟動(dòng)后，所述處理器通過(guò)所述測(cè)試輔助設(shè)備讀取所述測(cè)試電路點(diǎn)的電路參數(shù)。

于本實(shí)用新型的一實(shí)施例中所述測(cè)試器為具有串行通信功能的數(shù)字萬(wàn)用表；所述數(shù)字萬(wàn)用表的紅表棒和黑表棒分別插入至所述多卡槽轉(zhuǎn)接板。

于本實(shí)用新型的一實(shí)施例中，所述電路參數(shù)包括測(cè)試電路點(diǎn)的電阻、電流、電壓、電感、頻率、晶體管和/或MOS管特性。

如上所述，本實(shí)用新型的測(cè)試輔助設(shè)備、自動(dòng)測(cè)試方法及裝置，具有以下有益效果：

本實(shí)用新型所述的測(cè)試輔助設(shè)備、自動(dòng)測(cè)試裝置通過(guò)測(cè)試輔助設(shè)備可以自動(dòng)、連續(xù)、快速的完成電路參數(shù)測(cè)試，操作容易，且精確地獲取到電路板的電路參數(shù)，更在有時(shí)間限制的電路參數(shù)測(cè)試時(shí)無(wú)需增加輔助電路。

附圖說(shuō)明

圖1顯示為本實(shí)用新型的測(cè)試輔助設(shè)備于一實(shí)施例中的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2顯示為本實(shí)用新型的測(cè)試輔助設(shè)備中可插入式受控開(kāi)關(guān)組板于一實(shí)施例中的結(jié)構(gòu)示意圖。