[實(shí)用新型]EAS硬標(biāo)簽質(zhì)量參數(shù)檢測(cè)裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201621102817.0
• 申請(qǐng)日: 2016-10-08
• 公開（公告）號(hào): CN206270515U
• 公開（公告）日: 2017-06-20
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 盛慶元;蔡曉霞;汪鎵威;李晨輝;徐少華
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 紹興職業(yè)技術(shù)學(xué)院
• 主分類號(hào): G01V13/00
• 分類號(hào): G01V13/00
• 代理公司: 北京眾合誠(chéng)成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司11246
• 代理人: 連平,譚建文

技術(shù)領(lǐng)域：

本實(shí)用新型涉及電子商品防盜系統(tǒng)(EAS)檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，更具體的說(shuō)涉及一種EAS用硬標(biāo)簽質(zhì)量參數(shù)諧振頻率F和品質(zhì)因素Q值的檢測(cè)傳感器。

背景技術(shù)：

電子商品防盜系統(tǒng)(EAS)的應(yīng)用越來(lái)越多，但是國(guó)內(nèi)生產(chǎn)廠家對(duì)EAS中的電子標(biāo)簽，特別是硬標(biāo)簽質(zhì)量的檢測(cè)停留在人工測(cè)試階段，暴露出檢測(cè)精度差，自動(dòng)化水平低，無(wú)法對(duì)產(chǎn)品的質(zhì)量參數(shù)進(jìn)行評(píng)估等缺點(diǎn)。

目前，ISO/IEC 18046-3-2007給出了EAS系統(tǒng)的標(biāo)簽以及防盜檢測(cè)系統(tǒng)的基本規(guī)范要求。國(guó)內(nèi)一些學(xué)者根據(jù)規(guī)范對(duì)電子標(biāo)簽在線參數(shù)檢測(cè)技術(shù)進(jìn)行研究，如：楊成忠等提出了利用互感耦合原理對(duì)電子標(biāo)簽的質(zhì)量參數(shù)進(jìn)行檢測(cè)的方法。宋小鋒、朱亞萍研究了單線圈傳感器模型和雙線圈傳感器模型結(jié)構(gòu)特點(diǎn)。從現(xiàn)有文獻(xiàn)來(lái)看，國(guó)內(nèi)外研究的對(duì)象以軟標(biāo)簽為主，圍繞雙線圈結(jié)構(gòu)傳感器進(jìn)行。研究表明雙線圈式傳感器圈的面積、繞制匝數(shù)、硬標(biāo)簽放置位置及硬標(biāo)簽與傳感器相對(duì)位置都會(huì)影響硬標(biāo)簽質(zhì)量參數(shù)準(zhǔn)確性。這種結(jié)構(gòu)存在缺陷在于發(fā)射與接收線圈間，標(biāo)簽與發(fā)射和接收線圈間都會(huì)互相干擾；特別是標(biāo)簽對(duì)發(fā)射線圈的影響將改變?cè)艌?chǎng)的強(qiáng)度，而且由于不同標(biāo)簽對(duì)發(fā)射線圈的影響不同使得數(shù)據(jù)修正不可能實(shí)現(xiàn)；同時(shí)，發(fā)射線圈對(duì)接收線圈的影響疊加于標(biāo)簽產(chǎn)生的磁場(chǎng)上，無(wú)法區(qū)分；這些都會(huì)導(dǎo)致諧振頻率產(chǎn)生偏差，對(duì)Q值判定誤差的影響將更為嚴(yán)重。為克服上述問題，發(fā)明專利(CN 102735943 B)無(wú)源電子標(biāo)簽諧振頻率及Q值檢測(cè)傳感器提供一種消除上述發(fā)射與接收線圈間，標(biāo)簽與發(fā)射和接收線圈間互相干擾問題。但是此專利傳感器結(jié)構(gòu)復(fù)雜，包括兩個(gè)發(fā)射線圈和一個(gè)接收線圈，其發(fā)射線圈又由主發(fā)射線圈和輔發(fā)射線圈組成，接收線圈也由主發(fā)射線圈和輔發(fā)射線圈組成，其實(shí)質(zhì)需要6個(gè)線圈組成一個(gè)傳感器，線圈數(shù)多，制造成本高；另外，此傳感器對(duì)發(fā)射、接收線圈的一致性要求高，制作工藝要求高；再則，此傳感器結(jié)構(gòu)沒法消除地磁場(chǎng)的影響。

實(shí)用新型內(nèi)容：

本實(shí)用新型的目的就是針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)之不足，而提供一種EAS硬標(biāo)簽質(zhì)量參數(shù)檢測(cè)裝置，它結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，運(yùn)行穩(wěn)定，能夠準(zhǔn)確測(cè)定EAS用硬標(biāo)簽質(zhì)量參數(shù)——諧振頻率F和品質(zhì)因素Q值。

本實(shí)用新型的技術(shù)解決措施如下：

EAS硬標(biāo)簽質(zhì)量參數(shù)檢測(cè)裝置，包括一對(duì)發(fā)射線圈一對(duì)接收線圈和信號(hào)處理模塊，一對(duì)發(fā)射線圈包括左發(fā)射線圈和右發(fā)射線圈，左發(fā)射線圈、右發(fā)射線圈的結(jié)構(gòu)完全相同，左發(fā)射線圈和右發(fā)射線圈這兩個(gè)線圈中心在同一軸線上；左發(fā)射線圈與右發(fā)射線圈的間距等于左發(fā)射線圈的半徑；

左發(fā)射線圈和右發(fā)射線圈用導(dǎo)線串聯(lián)，當(dāng)左發(fā)射線圈和右發(fā)射線圈施加交流激勵(lì)信號(hào)時(shí)，電流應(yīng)以同向流轉(zhuǎn)方向經(jīng)過左發(fā)射線圈和右發(fā)射線圈；

一對(duì)接收線圈包括左接收線圈和右接收線圈，左接收線圈和右接收線圈結(jié)構(gòu)完全相同，左接收線圈和右接收線圈的中心在同一軸線上；

左接收線圈和右接收線圈之間間距應(yīng)小于左發(fā)射線圈和右發(fā)射線圈間距的一半；

左接收線圈和右接收線圈用導(dǎo)線串聯(lián)，當(dāng)左接收線圈和右接收線圈施加交流激勵(lì)信號(hào)時(shí)，電流應(yīng)以反向流轉(zhuǎn)方向經(jīng)過左接收線圈和右接收線圈；

信號(hào)處理模塊包括差分電路和兩級(jí)積分電路，差分電路的兩信號(hào)輸入端分別與左接收線圈和右接收線圈未串聯(lián)兩端電連接。

所述左接收線圈的直徑為左發(fā)射線圈直徑的四分之一；左接收線圈的直徑應(yīng)小于1.5倍硬標(biāo)簽中核心元件磁棒線圈的直徑。

所述左接收線圈或右接收線圈用來(lái)插入被檢測(cè)硬標(biāo)簽核心元件磁棒線圈。

本實(shí)用新型的有益效果在于：

它結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，運(yùn)行穩(wěn)定，能夠準(zhǔn)確測(cè)定EAS用硬標(biāo)簽質(zhì)量參數(shù)——諧振頻率F和品質(zhì)因素Q值。

附圖說(shuō)明：

圖1是本實(shí)用新型信號(hào)處理模塊部分的電路圖；

圖2為本實(shí)用新型發(fā)射線圈和接收線圈部分的電路圖；

圖3是硬標(biāo)簽電子元器件結(jié)構(gòu)等效電路圖；

圖4為示波器接收到的信號(hào)圖。

具體實(shí)施方式：

實(shí)施例：見圖1、2所示，EAS硬標(biāo)簽質(zhì)量參數(shù)檢測(cè)裝置，包括一對(duì)發(fā)射線圈Lf1、Lf2一對(duì)接收線圈Lz、Lf和信號(hào)處理模塊，一對(duì)發(fā)射線圈包括左發(fā)射線圈Lf1和右發(fā)射線圈Lf2，左發(fā)射線圈、右發(fā)射線圈的結(jié)構(gòu)完全相同，左發(fā)射線圈Lf1和右發(fā)射線圈Lf2這兩個(gè)線圈中心在同一軸線上；左發(fā)射線圈Lf1與右發(fā)射線圈Lf2的間距等于左發(fā)射線圈Lf1的半徑；