[實用新型]一種轉盤式封測設備的大轉盤

有效

• 申請號: 201621048320.5
• 申請日: 2016-09-12
• 公開（公告）號: CN206134654U
• 公開（公告）日: 2017-04-26
• 發明（設計）人: 張巍巍
• 申請（專利權）人: 江蘇格朗瑞科技有限公司
• 主分類號: H01L21/67
• 分類號: H01L21/67
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本實用新型涉及一種轉盤式測試打印編帶一體封測設備，特別涉及一種封測設備的大轉盤，尤其是一種封測設備大轉盤的光檢機構。

背景技術

轉盤式測試打印編帶一體機是把散裝的半導體晶體管放置在震動容器中排列整齊的進入機臺軌道中，并通過高速的旋轉臺上具有空壓吸力的眾多吸嘴對半導體晶體管進行不同的站別工序的測試，通過極性測試、轉向定位、性能測試、視覺檢測(2D、3D、5S)、打印、轉向各道工序，對不合格品進行分類，合格品最后進入編帶封裝。

現有技術中，封測設備的光檢顯示器擺臂可以360度旋轉，容易導致擺臂內部容置的電線纏繞在一起，從而造成線路接觸不良或者短路。因此，如何避免上述狀況發生，是本實用新型要解決的問題。

實用新型內容

為解決上述技術問題，本實用新型提供了一種轉盤式封測設備的大轉盤，以避免出現光檢顯示器擺臂旋轉時出現電線纏繞的不良狀況。

為達到上述目的，本實用新型的技術方案如下：

一種轉盤式封測設備的大轉盤，所述大轉盤上對應光檢工位具有光檢顯示器，所述光檢顯示器安裝在擺臂上，所述擺臂通過轉軸安裝在所述大轉盤對應的所述光檢工位上；

以所述擺臂的軸心為中心，在所述擺臂的兩側設置有兩個定位擋塊，兩個所述定位擋塊與所述軸心的間距相等，所述擺臂具有凸起，所述軸心與凸起端面的間距大于等于所述定位擋塊與軸心的間距。

其中，所述擺臂的凸起以所述軸心為原點轉動時，其在兩個所述定位擋塊之間的轉動角度為100-200°。

進一步的，所述擺臂的凸起在兩個所述定位擋塊之間的轉動角度為180°，以限制光檢顯示器的擺臂只能在小于等于180°的范圍內轉動。

進一步的，所述擺臂的凸起兩側接觸所述定位擋塊的部位具有緩沖墊以避免所述擺臂受損。

進一步的，所述緩沖墊內設置有接觸傳感器，以將擺臂轉動至最大角度時的信號傳輸至控制器以控制驅動機構反向驅動所述擺臂。

其中，所述擺臂由電機驅動旋轉，所述擺臂與電機之間通過360等分嚙合齒輪連接。

進一步的述擺臂的凸起端面具有徑向的指針，所述光檢工位上設置有對應所述指針的360等分刻度圈。

通過上述技術方案，本實用新型通過增加2個定位擋塊后，光檢顯示器擺臂只能在小于等于180度的范圍內轉動，從而保證了擺臂內部容置的電線不會纏繞在一起，避免了電線接觸不良或者短路的可能，同時，其還具有如下優點：

①緩沖墊的設置避免了擺臂旋轉過程受損；

②接觸傳感器的設置可以及時調整驅動機構的驅動旋轉方向，反應靈敏度高；

③360等分嚙合齒輪驅動及360等分刻度圈設置，有效確保了擺臂的旋轉角度精準無誤，從而提高光檢精度。

附圖說明

為了更清楚地說明本實用新型實施例中的技術方案，下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹。

圖1為本實用新型實施例所公開的大轉盤光檢機構俯視結構示意圖。

圖中數字表示：

11.光檢工位12.轉軸13.擺臂

14.光檢顯示器15.凸起16.定位擋塊

17.指針18.刻度圈

具體實施方式

下面將結合本實用新型實施例中的附圖，對本實用新型實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述。

參考圖1，本實用新型提供的轉盤式封測設備的大轉盤，大轉盤上對應光檢工位11具有光檢顯示器14，光檢顯示器14安裝在擺臂13上，擺臂13通過轉軸12安裝在大轉盤對應的光檢工位11上；以擺臂13的軸心為中心，在擺臂13的兩側設置有兩個定位擋塊16，兩個定位擋塊16與軸心的間距相等，擺臂13具有凸起15，軸心與凸起15端面的間距大于等于定位擋塊16與軸心的間距。

其中，擺臂13的凸起15以軸心為原點轉動時，其在兩個定位擋塊16之間的轉動角度為180°，以限制光檢顯示器14的擺臂13只能在小于等于180°的范圍內轉動；擺臂13的凸起15兩側接觸定位擋塊16的部位具有緩沖墊以避免擺臂13受損，且緩沖墊內設置有接觸傳感器以將擺臂13轉動至最大角度時的信號傳輸至控制器以控制驅動機構反向驅動擺臂13；擺臂13由電機驅動旋轉，擺臂13與電機之間通過360等分嚙合齒輪連接；擺臂13的凸起15端面具有徑向的指針17，光檢工位11上設置有對應指針17的360等分刻度圈18。