[實用新型]一種用于校準測高儀的標準裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201621002312.7 | 申請日: | 2016-08-31 |
| 公開(公告)號: | CN206488753U | 公開(公告)日: | 2017-09-12 |
| 發(fā)明(設計)人: | 陳龍;徐健;陶磊;周森;李鋼;熊俊;顏宇;倪穎倩;劉彤 | 申請(專利權)人: | 重慶市計量質(zhì)量檢測研究院 |
| 主分類號: | G01B21/00 | 分類號: | G01B21/00;G01B21/02 |
| 代理公司: | 北京華仲龍騰專利代理事務所(普通合伙)11548 | 代理人: | 李靜 |
| 地址: | 404100 重慶市渝北區(qū)楊柳北路1*** | 國省代碼: | 重慶;85 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 用于 校準 測高儀 標準 裝置 | ||
1.一種用于校準測高儀的標準裝置,其包括直角三角形的花崗石基體,所述的花崗石基體上設有通孔,所述的花崗石基體的斜邊上等間隔設置有5個平行于所述的花崗石基體的短直角邊的小工作平面,其中,所述的花崗石基體的長直角邊的長度為420mm,短直角邊的長度為210mm,所述的花崗石基體的厚度為50mm,所述的花崗石基體的兩個直角邊平面和5個小工作平面的平面度應不大于0.003mm。
2.根據(jù)權利要求1所述的一種用于校準測高儀的標準裝置,其特征在于:所述的花崗石基體上的通孔為多個。
3.根據(jù)權利要求1所述的一種用于校準測高儀的標準裝置,其特征在于:所述的花崗石基體的兩個直角邊的垂直度應不大于0.003mm。
4.根據(jù)權利要求1所述的一種用于校準測高儀的標準裝置,其特征在于:所述的花崗石基體的斜邊上的5個小工作平面的表面粗糙度應不大于0.0001mm。
5.根據(jù)權利要求1-4任意一項所述的一種用于校準測高儀的標準裝置,其特征在于:花崗石硬度不低于70HS或52HRC。
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