[實(shí)用新型]集成電路直流測試探針設(shè)備有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201620959782.6 | 申請日： | 2016-08-26 |
| 公開（公告）號： | CN206649060U | 公開（公告）日： | 2017-11-17 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 陳一峰 | 申請（專利權(quán)）人： | 成都海威華芯科技有限公司 |
| 主分類號： | G01R1/067 | 分類號： | G01R1/067;G01R31/28 |
| 代理公司： | 成都華風(fēng)專利事務(wù)所(普通合伙)51223 | 代理人： | 徐豐,胡川 |
| 地址： | 610029 四川省成都市*** | 國省代碼： | 四川;51 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 集成電路 直流 測試 探針 設(shè)備 | ||
1.一種集成電路直流測試探針設(shè)備，其特征在于，包括探針臺和探針基座，所述探針基座的一端設(shè)有探針，所述探針臺內(nèi)設(shè)有電磁控件，所述探針基座的底部設(shè)有軟磁材料層，當(dāng)所述電磁控件通電時，所述電磁控件對所述軟磁材料層產(chǎn)生電磁吸力，將所述探針基座固定在所述探針臺上，當(dāng)所述電磁控件斷電時，所述電磁吸力消失。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的集成電路直流測試探針設(shè)備，其特征在于，所述探針基座內(nèi)設(shè)有手動驅(qū)動單元，所述手動驅(qū)動單元用于驅(qū)動所述探針前后、左右或上下移動。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的集成電路直流測試探針設(shè)備，其特征在于，相鄰兩個固定孔之間的間距為0.5～5cm，所述固定孔的深度為20～50mm。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的集成電路直流測試探針設(shè)備，其特征在于，所述固定孔的形狀為正方形，所述固定孔的邊長為0.5～5cm。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的集成電路直流測試探針設(shè)備，其特征在于，所述固定孔的形狀為圓形，所述固定孔的直徑為0.5～5cm。
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G01R 測量電變量；測量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類儀器或裝置的零部件
G01R1-02 .一般結(jié)構(gòu)零部件
G01R1-20 .電測量儀器中所用的基本電氣元件的改進(jìn)；這些元件和這類儀器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-28 .在測量儀器中提供基準(zhǔn)值的設(shè)備，例如提供標(biāo)準(zhǔn)電壓、標(biāo)準(zhǔn)波形
G01R1-30 .電測量儀器與基本電子線路的結(jié)構(gòu)組合，例如與放大器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-36 .電測量儀器的過負(fù)載保護(hù)裝置或電路
