[實用新型]用于回旋行波管耦合結構的場分布測試系統

有效

• 申請號: 201620936398.4
• 申請日: 2016-08-24
• 公開（公告）號: CN206583979U
• 公開（公告）日: 2017-10-24
• 發明（設計）人: 蔣藝;雷文強;胡鵬;胡林林;孫迪敏;周泉豐;黃銀虎;宋睿;閻磊;曾造金;卓婷婷;馬國武;陳洪斌
• 申請（專利權）人: 中國工程物理研究院應用電子學研究所
• 主分類號: G01R29/14
• 分類號: G01R29/14;G01R29/08
• 代理公司: 北京遠大卓悅知識產權代理事務所(普通合伙)11369
• 代理人: 鄭健

1.一種用于回旋行波管耦合結構的場分布測試系統，其特征在于，包括：

用于發射微波信號的信號源；

以及依次設置在信號源的微波信號發射方向的待測回旋行波管耦合結構、波導探針、標準WR6波導和功率計；

其中，將波導探針、標準WR6波導和功率計放置在三維調節平臺上，調節三維調節平臺以實現功率值的調節，進而對功率值和三維調節平臺的位置信息進行一一對應處理，得到待測回旋行波管耦合結構場分布圖。

2.如權利要求1所述的用于回旋行波管耦合結構的場分布測試系統，其特征在于，所述待測回旋行波管耦合結構的輸入端與信號源的微波信號輸出端連接；所述波導探針的輸入端抵近所述待測回旋行波管耦合結構的輸出端；所述標準WR6波導的輸入端與波導探針的輸出端連接；所述功率計的測試信號的輸入端與標準WR6波導的輸出端連接。

3.如權利要求2所述的用于回旋行波管耦合結構的場分布測試系統，其特征在于，所述連接均采用法蘭連接。

4.如權利要求2所述的用于回旋行波管耦合結構的場分布測試系統，其特征在于，所述波導探針為一具有梯形體金屬輸入端部的結構。

5.如權利要求4所述的用于回旋行波管耦合結構的場分布測試系統，其特征在于，所述波導探針的梯形體金屬輸入端與待測回旋行波管耦合結構的輸出端的抵近距離為1～2mm。

6.如權利要求1所述的用于回旋行波管耦合結構的場分布測試系統，其特征在于，所述待測回旋行波管耦合結構為具有開場結構的模式變換結構；所述開場結構的模式變換結構的開場輻射面為微波信號的輻射方向。

7.如權利要求1所述的用于回旋行波管耦合結構的場分布測試系統，其特征在于，所述標準WR6波導的波導尺寸為1.651mm×0.826mm，測量頻率范圍為110GHz～170GHz。