[實(shí)用新型]一種濁度測(cè)量電路有效

申請(qǐng)?zhí)枺?/td>	201620884078.9	申請(qǐng)日：	2016-08-15
公開（公告）號(hào)：	CN205958443U	公開（公告）日：	2017-02-15
發(fā)明（設(shè)計(jì)）人：	李偉坤;鄭儉鋒;黃曉平	申請(qǐng)（專利權(quán)）人：	深圳市清時(shí)捷科技有限公司
主分類號(hào)：	G01N21/01	分類號(hào)：	G01N21/01;G01N21/49
代理公司：	深圳市精英專利事務(wù)所44242	代理人：	馮筠
地址：	518008 廣東省深圳市寶安***	國省代碼：	廣東;44
權(quán)利要求書：	查看更多	說明書：	查看更多
摘要：
搜索關(guān)鍵詞：	一種濁度測(cè)量電路
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專利分類

G 物理

G01 測(cè)量；測(cè)試
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段，即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā)，因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng)，測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)

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說明：

1、專利原文基于中國國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局專利說明書；

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