[實用新型]一種非易失性存儲器的數據讀取裝置

有效

• 申請號: 201620763496.2
• 申請日: 2016-07-19
• 公開（公告）號: CN206210397U
• 公開（公告）日: 2017-05-31
• 發明（設計）人: 薛子恒;劉奎偉;潘榮華
• 申請（專利權）人: 北京兆易創新科技股份有限公司
• 主分類號: G11C16/26
• 分類號: G11C16/26;G11C16/06;G11C16/34
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司11332
• 代理人: 孟金喆,胡彬

技術領域

本實用新型涉及存儲器技術領域，尤其涉及一種非易失性存儲器的數據讀取裝置。

背景技術

隨著電子設備的不斷普及，人們對于高密度和低功耗的非易失性存儲器的需求與日俱增。可靠性是評價存儲器的一個重要指標。可靠性是指產品在規定條件下和規定時間內完成規定的功能。

數據保持力是評價非易失性存儲器可靠性的重要參數。數據保持力是指非易失性存儲器存儲的數據經過一段時間后沒有失真或丟失，仍可有效讀出的能力。目前，提高非易失性存儲器數據保持力的方法是在非易失性存儲器進行擦除操作過程中加入恢復操作，進而提高數據的可靠性。

但是用戶對非易失性存儲器進行一次的擦除操作和編程操作后，僅對非易失性存儲器進行讀操作。對存儲單元而言，浮柵中存儲的電荷量決定了存儲單元的閾值電壓，而存儲單元的閾值電壓則決定了存儲單元是存儲數據“0”，還是存儲數據“1”。由于存儲單元內部自身缺陷及外部影響，會造成浮柵中存儲的電荷流失，從而引起存儲單元閾值電壓的降低，隨著時間的推移，當閾值電壓降壓到一定值后，存儲單元中的存儲的數據會發生變化，當用戶下次再對該存儲單元進行讀操作時，會造成誤讀，導致非易失性存儲器的可靠性降低。

實用新型內容

本實用新型提供一種非易失性存儲器的數據讀取裝置，以減少非易失性存儲器讀操作過程中的誤讀，提高非易失性存儲器數據的可靠性。

本實用新型實施例提供了一種非易失性存儲器的數據讀取裝置，該裝置包括：

讀取比較器，所述讀取比較器的輸入端與讀取參考電壓和存儲單元的輸出端相連，用于根據接收到的讀取請求，將所述存儲單元的單元電壓與讀取參考電壓進行比較，并輸出讀取結果；

校驗比較器，所述校驗比較器的輸入端與校驗參考電壓和存儲單元的輸出端相連，用于將所述存儲單元的單元電壓與校驗參考電壓進行比較，并輸出校驗結果；其中，所述校驗參考電壓大于所述讀取參考電壓；

偏移地址記錄單元，與所述讀取比較器和所述校驗比較器相連，用于根據讀取結果和校驗結果，在確定單元電壓低于設定門限值時，確定所述存儲單元為偏移存儲單元，則記錄所述偏移存儲單元的偏移單元地址；

讀取糾正單元，與所述偏移地址記錄單元相連，用于如果接收到的讀取請求命中所述偏移單元地址時，確定對所述偏移存儲單元的讀取結果為設定值，并抑制所述讀取比較器的輸出。

在上述方案中，可選的是，如果所述單元電壓小于校驗參考電壓，且大于讀取參考電壓，則確定所述存儲單元為偏移存儲單元；

如果所述單元電壓小于校驗參考電壓和讀取參考電壓，則確定所述存儲單元為擦除存儲單元；

如果所述單元電壓大于校驗參考電壓和讀取參考電壓，則確定所述存儲單元為編程存儲單元。

在上述方案中，可選的是，所述設定值為“0”。

在上述方案中，可選的是，讀取比較器的輸入端分別與存儲單元的漏極和讀取參考存儲單元的漏極相連，校驗比較器的輸入端分別與存儲單元的漏極和校驗參考存儲單元的漏極相連，

其中，存儲單元的漏極與第一電阻相連，第一電阻的另一端與電源相連，存儲單元的源極接地；

讀取參考單元的漏極與第二電阻相連，第二電阻的另一端與電源相連，讀取參考單元的源極接地；

校驗參考單元的漏極與第三電阻相連，第三電阻的另一端與電源相連，校驗參考單元的源極接地。

本實用新型實施例通過在存儲單元讀取數據過程中，根據讀取結果和校驗結果，在確定單元電壓低于設定門限值時，確定并記錄偏移存儲單元，在下次讀取該存儲單元時，將該存儲單元的讀取結果確定并輸出為設定值，從而減少非易失性存儲器讀操作過程中的誤讀，提高非易失性存儲器數據的可靠性。

附圖說明

圖1為本實用新型實施例一中的一種非易失性存儲器的數據讀取裝置的結構示意圖；

圖2是本實用新型實施例三中的一種非易失性存儲器的數據讀取裝置的讀取比較器和校驗比較器的結構示意圖；

圖3是本實用新型實施例所提供的非易失性存儲器的數據讀取裝置的執行方法的流程示意圖。

具體實施方式

下面結合附圖和實施例對本實用新型作進一步的詳細說明。可以理解的是，此處所描述的具體實施例僅僅用于解釋本實用新型，而非對本實用新型的限定。另外還需要說明的是，為了便于描述，附圖中僅示出了與本實用新型相關的部分而非全部結構。

實施例一