[實(shí)用新型]一種非接觸式超聲波法局部放電檢測儀的考核校驗(yàn)裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201620706601.9 | 申請日: | 2016-06-30 |
| 公開(公告)號(hào): | CN206038887U | 公開(公告)日: | 2017-03-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳偉中;樓狄;張武波;曹超;劉鳳琳;陳云鵬;杜合;胡志鵬;厲洋;葉新林;王光祥 | 申請(專利權(quán))人: | 杭州西湖電子研究所 |
| 主分類號(hào): | G01R35/00 | 分類號(hào): | G01R35/00 |
| 代理公司: | 杭州君度專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙)33240 | 代理人: | 杜軍 |
| 地址: | 311121 浙江省杭州*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 接觸 超聲波 局部 放電 檢測 考核 校驗(yàn) 裝置 | ||
【說明書】:
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