[實(shí)用新型]一種非接觸式超聲波法局部放電檢測儀的考核校驗(yàn)裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201620706601.9 | 申請日： | 2016-06-30 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN206038887U | 公開（公告）日： | 2017-03-22 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 陳偉中;樓狄;張武波;曹超;劉鳳琳;陳云鵬;杜合;胡志鵬;厲洋;葉新林;王光祥 | 申請（專利權(quán)）人： | 杭州西湖電子研究所 |
| 主分類號(hào)： | G01R35/00 | 分類號(hào)： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 杭州君度專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙)33240 | 代理人： | 杜軍 |
| 地址： | 311121 浙江省杭州*** | 國省代碼： | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 接觸 超聲波 局部 放電 檢測 考核 校驗(yàn) 裝置 | ||
【說明書】：
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