[實用新型]一種基于激光準直原理的二維位移測量裝置有效
| 申請號： | 201620702926.X | 申請日： | 2016-06-30 |
| 公開（公告）號： | CN205785070U | 公開（公告）日： | 2016-12-07 |
| 發明（設計）人： | 龔廉溟;姚鴻梁;徐輝;王琛 | 申請（專利權）人： | 嘉興同禾傳感技術有限公司 |
| 主分類號： | G01B11/00 | 分類號： | G01B11/00;G01B11/16 |
| 代理公司： | 杭州君度專利代理事務所(特殊普通合伙)33240 | 代理人： | 沈志良 |
| 地址： | 314050 浙江省嘉興市南湖區*** | 國省代碼： | 浙江;33 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 基于 激光 原理 二維 位移 測量 裝置 | ||
【權利要求書】：
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于嘉興同禾傳感技術有限公司，未經嘉興同禾傳感技術有限公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201620702926.X/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇：一種PCB板自動檢驗裝置
- 下一篇：一種外廓尺寸測量儀的機箱
