[實(shí)用新型]一種適用于SOP?8封裝的瞬態(tài)電壓抑制二極管測(cè)試裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201620669143.6 | 申請(qǐng)日: | 2016-06-29 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN205786999U | 公開(kāi)(公告)日: | 2016-12-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 潘昆;楊秀倫;馬緒;柯梅;楊光敏;侯光碧 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)振華集團(tuán)永光電子有限公司(國(guó)營(yíng)第八七三廠) |
| 主分類號(hào): | G01R31/26 | 分類號(hào): | G01R31/26;G01R1/04 |
| 代理公司: | 貴陽(yáng)派騰陽(yáng)光知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)52110 | 代理人: | 管寶偉 |
| 地址: | 550018 貴州省*** | 國(guó)省代碼: | 貴州;52 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 適用于 sop 封裝 瞬態(tài) 電壓 抑制 二極管 測(cè)試 裝置 | ||
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國(guó)振華集團(tuán)永光電子有限公司(國(guó)營(yíng)第八七三廠),未經(jīng)中國(guó)振華集團(tuán)永光電子有限公司(國(guó)營(yíng)第八七三廠)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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