[實用新型]芯片測試系統有效
| 申請號： | 201620664595.5 | 申請日： | 2016-06-30 |
| 公開（公告）號： | CN205826813U | 公開（公告）日： | 2016-12-21 |
| 發明（設計）人： | 萬利劍 | 申請（專利權）人： | 成繹半導體技術（上海）有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 201000 上海市浦東*** | 國省代碼： | 上海;31 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 芯片 測試 系統 | ||
【權利要求書】：
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于成繹半導體技術（上海）有限公司，未經成繹半導體技術（上海）有限公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201620664595.5/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇：FPC的電測治具
- 下一篇：一種測試移動電源PCB板的電路
