[實用新型]一種光學檢漏測試系統(tǒng)可調(diào)式定位裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201620632301.0 | 申請日： | 2016-06-23 |
| 公開（公告）號： | CN205826253U | 公開（公告）日： | 2016-12-21 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 梁媛;趙辛雨;蔡良續(xù);盧曉青 | 申請（專利權(quán)）人： | 中國航空綜合技術(shù)研究所 |
| 主分類號： | G01M3/38 | 分類號： | G01M3/38 |
| 代理公司： | 中國航空專利中心11008 | 代理人： | 陳宏林 |
| 地址： | 100028*** | 國省代碼： | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 光學 檢漏 測試 系統(tǒng) 調(diào)式 定位 裝置 | ||
【說明書】：
下載完整專利技術(shù)內(nèi)容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國航空綜合技術(shù)研究所，未經(jīng)中國航空綜合技術(shù)研究所許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201620632301.0/2.html，轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
