[實用新型]一種X射線冷光計算機斷層掃描實驗系統有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201620615789.6 | 申請日： | 2016-06-21 |
| 公開（公告）號： | CN205786412U | 公開（公告）日： | 2016-12-07 |
| 發(fā)明（設計）人： | 陳昳麗;符吉祥;李栓;劉云;儲大為;江帆;謝耀欽;王磊 | 申請（專利權）人： | 中國科學院深圳先進技術研究院 |
| 主分類號： | G01N23/223 | 分類號： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 深圳市科進知識產權代理事務所(普通合伙)44316 | 代理人： | 郝明琴 |
| 地址： | 518055 廣東省深圳*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 射線 冷光 計算機 斷層 掃描 實驗 系統 | ||
【權利要求書】：
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