[實用新型]基質輔助激光解析離子源進樣裝置有效
| 申請號： | 201620556870.1 | 申請日： | 2016-06-12 |
| 公開（公告）號： | CN205691540U | 公開（公告）日： | 2016-11-16 |
| 發明（設計）人： | 應剛;徐鵬登;周立 | 申請（專利權）人： | 江蘇天瑞儀器股份有限公司 |
| 主分類號： | G01N27/62 | 分類號： | G01N27/62 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 215347 江蘇省蘇州市昆*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 基質 輔助 激光 解析 離子源 裝置 | ||
【權利要求書】：
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