[實用新型]一種行星架專用四孔位置度檢具

有效

• 申請號: 201620546592.1
• 申請日: 2016-06-07
• 公開（公告）號: CN206146328U
• 公開（公告）日: 2017-05-03
• 發明（設計）人: 蔡寧
• 申請（專利權）人: 杭州太普機械科技有限公司
• 主分類號: G01B5/00
• 分類號: G01B5/00
• 代理公司: 上海精晟知識產權代理有限公司31253
• 代理人: 馮子玲

1.一種行星架專用四孔位置度檢具，其特征在于包括基座(1)、軸向定位銷(2)，基座(1)的中心設有工件主軸定位孔(11)，基座(1)上工件軸向定位孔(11)的徑向周側均設置四組軸向定位銷孔(12)，所述軸向定位銷(2)與軸向定位銷孔(12)匹配插接，工件主軸定位孔(11)的一側端部設有坡口I(13)。

2.根據權利要求1所述的行星架專用四孔位置度檢具，其特征是：所述基座(1)軸向一端設有向內開設的內沉擴孔(14)，且所述工件主軸定位孔(11)以及其周側的軸向定位銷孔(12)均設置于該內沉擴孔(14)的軸向。

3.根據權利要求2所述的行星架專用四孔位置度檢具，其特征是：軸向定位銷孔(12)與內沉擴孔(14)的端部之間開設有坡口II(15)。

4.根據權利要求1所述的行星架專用四孔位置度檢具，其特征是：所述軸向定位銷(2)的端部開設有坡口III(21)。