[實用新型]半導體檢測結構有效
| 申請號： | 201620538541.4 | 申請日： | 2016-06-03 |
| 公開（公告）號： | CN205984977U | 公開（公告）日： | 2017-02-22 |
| 發明（設計）人： | 廖育德;蔡甦谷 | 申請（專利權）人： | 深圳宜特檢測技術有限公司 |
| 主分類號： | H01L23/544 | 分類號： | H01L23/544 |
| 代理公司： | 深圳市諾正聯合知識產權代理有限公司44368 | 代理人： | 李永華,張廣興 |
| 地址： | 518000 廣東省深圳市*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 半導體 檢測 結構 | ||
【權利要求書】：
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于深圳宜特檢測技術有限公司，未經深圳宜特檢測技術有限公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201620538541.4/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇：半導體芯片的封裝結構
- 下一篇：一種監控晶圓
